OS GSO ISO 13084:2013
表面化學分析 二次離子質(zhì)譜 飛行時間二次離子質(zhì)譜儀的質(zhì)量標度校準

Surface chemical analysis -- Secondary-ion mass spectrometry -- Calibration of the mass scale for a time-of-flight secondary-ion mass spectrometer

標準號

OS GSO ISO 13084:2013

發(fā)布

2013年

發(fā)布單位

阿曼規(guī)格和計量局

當前最新

OS GSO ISO 13084:2013

 

 

介紹

該標準規(guī)定了表面化學分析中使用飛行時間二次離子質(zhì)譜儀進行質(zhì)量標度校準的方法。適用于需要精確測量樣品表面成分的實驗室和技術(shù)機構(gòu)，通過詳細的步驟和要求確保儀器在不同條件下的準確性。

***此介紹可能不準確，請注意參考原文。

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