ISO/TS 22298:2024
納米技術(shù)二氧化硅納米材料有序納米孔陣列二氧化硅特性和測量方法規(guī)范

Nanotechnologies — Silica nanomaterials — Specification of characteristics and measurement methods for silica with ordered nanopore array (SONA)

標準號

ISO/TS 22298:2024

發(fā)布

2024年

發(fā)布單位

國際標準化組織

當前最新

ISO/TS 22298:2024

 

 

介紹

國際標準化組織（ISO）于2024年3月22日發(fā)布的標準ISO/TS 22298:2024，對納米技術(shù)領(lǐng)域中的二氧化硅納米材料有序納米孔陣列的特性及其測量方法進行了詳細規(guī)范。該標準適用于需要精確控制和評估二氧化硅納米孔結(jié)構(gòu)特性的科研與工業(yè)應(yīng)用。標準內(nèi)容涵蓋了納米孔陣列的基本定義、分類、制備方法、物理化學(xué)性質(zhì)及測試方法，旨在為相關(guān)研究提供統(tǒng)一的技術(shù)參考。

具體而言，ISO/TS 22298:2024詳細說明了如何通過掃描電子顯微鏡（SEM）、透射電子顯微鏡（TEM）以及原子力顯微鏡（AFM）等手段精確測量納米孔陣列的尺寸、分布及排列情況。此外，該標準還規(guī)定了一系列關(guān)于納米孔的熱力學(xué)性質(zhì)、光學(xué)特性、電化學(xué)行為等方面的測試方法，以便于全面了解二氧化硅納米材料的獨特性能。

ISO/TS 22298:2024不僅為科研人員提供了寶貴的實驗指導(dǎo)，也為工業(yè)界在新材料開發(fā)和應(yīng)用過程中提供了一套可信賴的評價體系。通過遵循這一標準，相關(guān)產(chǎn)品和服務(wù)的質(zhì)量將得到顯著提升，從而推動納米技術(shù)領(lǐng)域的發(fā)展。

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