ISO 13084:2011
表面化學(xué)分析.二次離子質(zhì)譜分析法.飛行時(shí)間二次離子質(zhì)譜儀用質(zhì)量標(biāo)度的校準(zhǔn)
Surface chemical analysis - Secondary-ion mass spectrometry - Calibration of the mass scale for a time-of-flight secondary-ion mass spectrometer
- 標(biāo)準(zhǔn)號(hào)
- ISO 13084:2011
- 發(fā)布
- 2011年
- 總頁數(shù)
- 16頁
- 發(fā)布單位
- 國際標(biāo)準(zhǔn)化組織
- 替代標(biāo)準(zhǔn)
- ISO 13084:2018
- 當(dāng)前最新
- ISO 13084:2018
- 適用范圍
- 本國際標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了一種優(yōu)化用于一般分析目的的飛行時(shí)間 SIMS 儀器質(zhì)量校準(zhǔn)精度的方法。 它僅適用于飛行時(shí)間儀器，但不限于任何特定的儀器設(shè)計(jì)。 為可以使用此程序優(yōu)化的一些儀器參數(shù)以及適合校準(zhǔn)質(zhì)量標(biāo)度以獲得最佳質(zhì)量精度的通用峰類型提供了指導(dǎo)。
專題
ISO 13084:2011相似標(biāo)準(zhǔn)
BS ISO 13084:2018 表面化學(xué)分析 二次離子質(zhì)譜分析 飛行時(shí)間二次離子質(zhì)譜儀的質(zhì)量標(biāo)度校準(zhǔn)
GB/T 40129-2021 表面化學(xué)分析 二次離子質(zhì)譜 飛行時(shí)間二次離子質(zhì)譜儀質(zhì)量標(biāo)校準(zhǔn)
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GSO ISO 13084:2013 表面化學(xué)分析 二次離子質(zhì)譜 飛行時(shí)間二次離子質(zhì)譜儀的質(zhì)量標(biāo)度校準(zhǔn)
BH GSO ISO 13084:2016 表面化學(xué)分析 二次離子質(zhì)譜 飛行時(shí)間二次離子質(zhì)譜儀的質(zhì)量標(biāo)度校準(zhǔn)