GB/T 42848-2023
半導體集成電路直接數(shù)字頻率合成器測試方法

Test method for direct digital frequency synthesizer of semiconductor integrated circuit

適用范圍: 本文件規(guī)定了半導體集成電路中直接數(shù)字頻率合成器（以下簡稱“器件”)電特性的通用測試方法。本文件適用于單通道及多通道直接數(shù)字頻率合成器電路的測試。

術(shù)語	描述
滿幅輸出電流 Full-scale Output Current	配置模擬輸出端為滿幅輸出時的輸出電流。
增益誤差 Gain Error	對于電壓或電流輸出型的器件，器件轉(zhuǎn)換電壓或電流實際輸出范圍與理想輸出范圍之間的偏差。
積分非線性 Integral Nonlinearity	實際模擬輸出與理想輸出的最大偏差。

電流表	用于測量電路中的電流值。
升溫試驗大電流發(fā)生器速雷電力 SL8033 直流檢流計AZ19 速雷電力 AZ19 供應(yīng)直流數(shù)字電壓表PZ114_PZ126 速雷電力 PZ114_PZ126 直流數(shù)字電流表PZ15A_PZ93A/2_PZ93A/3 速雷電力 PZ15A_PZ93A/2_PZ93A/3
電壓表	用于測量電路中的電壓值。
頻率合成器測試系統(tǒng)	專門用于測試直接數(shù)字頻率合成器的性能指標。