二次離子質(zhì)譜?(Secondary Ion Mass Spectrometry，SIMS)?是一種材料表面化學(xué)分析技術(shù)，它依賴于收集和分離從材料表面產(chǎn)生的二次離子， 根據(jù)檢測(cè)到的離子的質(zhì)荷比?(m/z)而給出材料表面成分信息。飛行時(shí)間二次離子質(zhì)譜（ToF-SIMS)是質(zhì)譜分析的其中一種方法或者是其中一種類型的質(zhì)譜分析儀。固體表面激發(fā)的二次離子是雙束聚焦離子束轟擊樣品所產(chǎn)生的信號(hào)之一。...
/T 40071-2021納米技術(shù) 石墨烯相關(guān)二維材料的層數(shù)測(cè)量 光學(xué)對(duì)比度法2021/12/1GB/T 40109-2021表面化學(xué)分析 二次離子質(zhì)譜 硅中硼深度剖析方法2021/12/1GB/T 40110-2021表面化學(xué)分析 全反射X射線熒光光譜法（TXRF）測(cè)定硅片表面元素污染2021/12/1GB/T 40111-2021石油產(chǎn)品中氟、氯和硫含量的測(cè)定 燃燒-離子色譜法2021/12/1GB...
XPS技術(shù)以光電效應(yīng)為基礎(chǔ)，致力于研究材料表面和界面的元素化學(xué)狀態(tài)分析，結(jié)合多模式氬離子刻蝕技術(shù)還可以提供沿深度的二維元素分布信息，對(duì)電池研究至關(guān)重要。伴隨著鋰價(jià)持續(xù)高位、資源緊俏，新一輪鈉電的追逐，也悄悄地揭開了序幕，鈉離子電池與鋰離子電池在結(jié)構(gòu)上具有相似性，因此在材料表征研究方面亦相通。...
然而，貴金屬針尖極易彎曲，因此該組發(fā)展了有孔光纖硅針近場(chǎng)解吸技術(shù)，使激光通過開口極小（200 nm）硅針孔，使用尖端的瞬逝光進(jìn)行解吸，通過原子力自動(dòng)控制光纖尖端到樣品表面的距離，實(shí)現(xiàn)形貌與化學(xué)成分的共成像，無需使用探針，得到多種藥物在單細(xì)胞內(nèi)的分布成像，成像分辨率達(dá)250 nm。...
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