【基本原理】利用等離子體激發(fā)光源（ICP）使試驗樣品蒸發(fā)汽化，離解或分解成為原子狀態(tài)（原子可能進一步電離成離子狀態(tài)），原子以及離子在光源中激發(fā)發(fā)光，利用光譜儀器將發(fā)射的光分解為按波長排列的光譜，進一步利用光電器件檢測光譜，按測定得到的光譜波長對試樣進行定性分析，按發(fā)射光強度進行定量分析，從而得到試驗樣品具體含量數(shù)據(jù)?！痉秶约皯?yīng)用】本方法適用于微波輔助加酸消解硅酸基體，有機基體和其它復(fù)雜基體。...
分析儀產(chǎn)生磁場，不同種類的離子以15~40keV(千電子伏特)的能量離開離化子系統(tǒng)。換言之，它們以相對很快的速度運動。分析磁鐵在磁場中，每一種帶正電的離子都會被以特定的半徑沿形扭轉(zhuǎn)。偏轉(zhuǎn)弧形的半徑由該種離子的質(zhì)量、速度和磁場強度來決定。分析儀的末端是一個只能讓一種離子通過的狹縫。場強度被調(diào)整為與硼離子能通過狹縫的要求所匹配的值。這樣，只有硼離子通過分析子系統(tǒng)。...
由此可見只有高于104eV能量的氫離子才可穿透200nm的鋁膜在膜背側(cè)幾nm處產(chǎn)生二次電子，只有這些二次電子在強電場引導(dǎo)下達零電位鍍鋁的閃爍品體中，而后經(jīng)光電倍增管放大記錄，從而獲得鋼靶表面測點處氫離子濃度的信息。...
二次離子質(zhì)譜（SIMS）比其他表面微區(qū)分析方法更靈敏。由于應(yīng)用了中性原子、液態(tài)金屬離子、多原子離子和激光一次束，后電離技術(shù)，離子反射型飛行時間質(zhì)量分析器，離子延遲探測技術(shù)和計算機圖像處理技術(shù)等，使得新型的IWHI的一次束能量提高到MeV，束斑至亞μm，質(zhì)量分辨率達到15000，橫向和縱向分辨率小于0.5μm和5nm，探測限為ng/g，能給出二維和三維圖像信息。...
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