ASTM B567-98
用β射線反向散射法測(cè)定覆層厚度的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法

Standard Test Method for Measurement of Coating Thickness by the Beta Backscatter Method

被代替

標(biāo)準(zhǔn)號(hào)

ASTM B567-98

發(fā)布

1998年

發(fā)布單位

美國(guó)材料與試驗(yàn)協(xié)會(huì)

替代標(biāo)準(zhǔn)

ASTM B567-98(2003)

當(dāng)前最新

ASTM B567-98(2021)

 

 

適用范圍

1.1 本測(cè)試方法涵蓋使用 β 背散射計(jì)對(duì)涂層單位面積質(zhì)量的無(wú)損測(cè)量。如果涂層密度已知，它還涵蓋線性厚度的測(cè)量。
1.2 本試驗(yàn)方法適用于金屬和非金屬基材上的金屬和非金屬涂層。
1.3 本試驗(yàn)方法僅適用于涂層和基體的原子序數(shù)或等效原子序數(shù)相差適當(dāng)量的情況（見(jiàn)6.2）。
1.4 本標(biāo)準(zhǔn)并不旨在解決與其使用相關(guān)的所有安全問(wèn)題。本標(biāo)準(zhǔn)的使用者有責(zé)任在使用前建立適當(dāng)?shù)陌踩徒】祵?shí)踐并確定監(jiān)管限制的適用性。請(qǐng)參閱第 7 節(jié)中的具體危險(xiǎn)說(shuō)明。

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