SJ/T 11500-2015
碳化硅單晶晶向的測(cè)試方法
Test method for measuring crystallographic orientation of monocrystalline silicon carbide
SJT11500-2015, SJ11500-2015
- 標(biāo)準(zhǔn)號(hào)
- SJ/T 11500-2015
- 別名
- SJT11500-2015, SJ11500-2015
- 發(fā)布
- 2015年
- 總頁(yè)數(shù)
- 6頁(yè)
- 發(fā)布單位
- 行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)-電子
- 當(dāng)前最新
- SJ/T 11500-2015
- 適用范圍
- 本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了利用X射線衍射定向法測(cè)定碳化硅單晶晶向的方法。本標(biāo)準(zhǔn)適用于晶型為6H和4H的碳化硅單晶的晶向測(cè)定。