BS ISO 18554:2016
表面化學(xué)分析. 電子光譜. 采用X射線光電子能譜分析法對(duì)材料進(jìn)行分析的X射線的意外降解的識(shí)別, 評(píng)估和修正程序
Surface chemical analysis. Electron spectroscopies. Procedures for identifying, estimating and correcting for unintended degradation by X-rays in a material undergoing analysis by X-ray photoelectron spectroscopy
- 標(biāo)準(zhǔn)號(hào)
- BS ISO 18554:2016
- 發(fā)布
- 2016年
- 總頁數(shù)
- 28頁
- 發(fā)布單位
- 英國標(biāo)準(zhǔn)學(xué)會(huì)
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專題
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