NF C86-502:1983
電子元件統(tǒng)一質(zhì)量評(píng)審體系.紅外發(fā)光二極管，紅外發(fā)光二極管陣列
Harmonized system of quality assessment for electronic components. Blank detail specification. Infrared emitting diodes, infrared emitting diodes arrays.
- 標(biāo)準(zhǔn)號(hào)
- NF C86-502:1983
- 發(fā)布
- 1983年
- 總頁(yè)數(shù)
- 14頁(yè)
- 發(fā)布單位
- 法國(guó)標(biāo)準(zhǔn)化協(xié)會(huì)
- 當(dāng)前最新
- NF C86-502:1983
NF C86-502:1983 中可能用到的儀器設(shè)備
專(zhuān)題
NF C86-502:1983相似標(biāo)準(zhǔn)
BS EN 120002:1993 電子元件質(zhì)量評(píng)估協(xié)調(diào)制度規(guī)范 空白詳細(xì)規(guī)格：紅外發(fā)光二極管、紅外發(fā)光二極管陣列
SIS SS CECC 20002-1984 空白詳細(xì)規(guī)范．紅外發(fā)光二極管、紅外發(fā)光二極管陣列
LST EN 120002-2001 空白詳細(xì)規(guī)范 紅外線發(fā)光二極管、紅外線發(fā)光二極管陣列
DANSK DS/EN 120002:2016 空白詳細(xì)規(guī)格：紅外發(fā)射二極管、紅外發(fā)射二極管陣列
DIN EN 120002:1997-02 空白詳細(xì)規(guī)格：紅外發(fā)射二極管、紅外發(fā)射二極管陣列