電子顯微鏡法
本專題涉及電子顯微鏡法的標(biāo)準(zhǔn)有56條。
國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)分類中，電子顯微鏡法涉及到復(fù)合增強(qiáng)材料、長(zhǎng)度和角度測(cè)量、空氣質(zhì)量、犯罪行為防范、金屬材料試驗(yàn)、表面處理和鍍涂、試驗(yàn)條件和規(guī)程綜合、計(jì)量學(xué)和測(cè)量綜合、光學(xué)設(shè)備、建筑材料。
在中國(guó)標(biāo)準(zhǔn)分類中，電子顯微鏡法涉及到、基礎(chǔ)標(biāo)準(zhǔn)與通用方法、犯罪鑒定技術(shù)、金屬物理性能試驗(yàn)方法、金相檢驗(yàn)方法、金屬化學(xué)分析方法綜合、材料防護(hù)、化妝品、教育、學(xué)位、學(xué)銜、放大鏡與顯微鏡、氣體介質(zhì)與放射性物質(zhì)采樣方法、大氣環(huán)境有毒害物質(zhì)分析方法。
中國(guó)團(tuán)體標(biāo)準(zhǔn)，關(guān)于電子顯微鏡法的標(biāo)準(zhǔn)
- T/CSTM 00166.3-2020 石墨烯材料表征 第3部分 透射電子顯微鏡法
- T/SPSTS 030-2023 石墨烯材料 片徑尺寸測(cè)量 掃描電子顯微鏡法
- T/BSPT 6-2024 顆粒技術(shù) 微納米異質(zhì)結(jié)構(gòu)分析 透射電子顯微鏡法
- T/CSP 13-2024 顆粒技術(shù) 微納米異質(zhì)結(jié)構(gòu)分析 透射電子顯微鏡法
江蘇省標(biāo)準(zhǔn)，關(guān)于電子顯微鏡法的標(biāo)準(zhǔn)
- DB32/T 3459-2018 石墨烯薄膜微區(qū)覆蓋度測(cè)試 掃描電子顯微鏡法
日本工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)調(diào)查會(huì)，關(guān)于電子顯微鏡法的標(biāo)準(zhǔn)
- JIS K 3850-1:2006 空中纖維分子的測(cè)定.第1部分:光學(xué)顯微鏡法和掃描電子顯微鏡法
- JIS K 0149-1:2008 微光束分析.掃描電子顯微鏡法.校準(zhǔn)圖像放大指南
- JIS K 3850-1:2000 空氣中纖維粒子的測(cè)量方法.第1部分:光學(xué)顯微鏡法和掃描電子顯微鏡法
國(guó)家質(zhì)檢總局，關(guān)于電子顯微鏡法的標(biāo)準(zhǔn)
- GB/T 19267.6-2003 刑事技術(shù)微量物證的理化檢驗(yàn) 第6部分;掃描電子顯微鏡法
- GB/T 44558-2024 III族氮化物半導(dǎo)體材料中位錯(cuò)成像的測(cè)試 透射電子顯微鏡法
行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)-黑色冶金，關(guān)于電子顯微鏡法的標(biāo)準(zhǔn)
- YB/T 4676-2018 鋼中析出相的分析 透射電子顯微鏡法
瑞典標(biāo)準(zhǔn)研究所，關(guān)于電子顯微鏡法的標(biāo)準(zhǔn)
- SS-ISO 9220:1989 金屬覆蓋層厚度測(cè)量掃描電子顯微鏡法
- SS-EN ISO 9220:2022 金屬涂層 涂層厚度的測(cè)量 掃描電子顯微鏡法（ISO 9220:2022）
德國(guó)機(jī)械工程師協(xié)會(huì)，關(guān)于電子顯微鏡法的標(biāo)準(zhǔn)
- VDI 3866 BLATT 5-2015 技術(shù)產(chǎn)品中石棉的測(cè)定掃描電子顯微鏡法
- VDI 3866 Blatt 5-2003 工業(yè)產(chǎn)品中石棉的測(cè)定掃描電子顯微鏡法
- VDI 3866 BLATT 5-2017 工業(yè)產(chǎn)品中石棉的測(cè)定掃描電子顯微鏡法
韓國(guó)科技標(biāo)準(zhǔn)局，關(guān)于電子顯微鏡法的標(biāo)準(zhǔn)
- KS D 8544-2016(2021) 金屬涂層——涂層厚度測(cè)量——透射電子顯微鏡法
- KS D 8544-2006 金屬涂層.涂層厚度測(cè)量.透射電子顯微鏡法
- KS D ISO 9220-2009(2017) 金屬鍍層鍍層厚度的測(cè)量掃描電子顯微鏡法
- KS D ISO 9220-2009(2022) 金屬鍍層鍍層厚度的測(cè)量掃描電子顯微鏡法
- KS D ISO 9220:2009 金屬覆蓋層.鍍層厚度測(cè)量.掃描電子顯微鏡法
- KS D ISO 9220-2022 金屬涂層 涂層厚度的測(cè)量 掃描電子顯微鏡法
- KS D 8544-2021 金屬涂層 涂層厚度的測(cè)量 透射電子顯微鏡法
- KS I ISO 10312:2008 環(huán)境空氣.石棉纖維的測(cè)定.直接傳遞電子顯微鏡法
- KS I ISO 10312-2008(2018) 環(huán)境空氣石棉纖維的測(cè)定直接透射電子顯微鏡法
- KS I ISO 13794:2008 環(huán)境空氣.石棉纖維的測(cè)定.間接傳遞電子顯微鏡法
丹麥標(biāo)準(zhǔn)化協(xié)會(huì)，關(guān)于電子顯微鏡法的標(biāo)準(zhǔn)
- DANSK DS/ISO 9220:2022 金屬涂層 涂層厚度測(cè)量 掃描電子顯微鏡法
- DS/EN ISO 9220:1995 金屬鍍層 鍍層厚度的測(cè)量 掃描電子顯微鏡法
- DANSK DS/EN ISO 9220:1994 金屬覆蓋層 覆蓋層厚度測(cè)量 掃描電子顯微鏡法
意大利統(tǒng)一標(biāo)準(zhǔn)化組織，關(guān)于電子顯微鏡法的標(biāo)準(zhǔn)
- UNI EN ISO 9220:1998 金屬涂層 涂層厚度測(cè)量 掃描電子顯微鏡法
- UNI EN ISO 9220:2022 金屬覆蓋層 覆蓋層厚度測(cè)量 掃描電子顯微鏡法
海灣阿拉伯國(guó)家合作委員會(huì)標(biāo)準(zhǔn)組織，關(guān)于電子顯微鏡法的標(biāo)準(zhǔn)
- GSO ISO 9220:2013 金屬涂層 涂層厚度測(cè)量 掃描電子顯微鏡法
- GSO ISO 10312:2015 環(huán)境空氣石棉纖維的測(cè)定直接透射電子顯微鏡法
英國(guó)標(biāo)準(zhǔn)學(xué)會(huì)，關(guān)于電子顯微鏡法的標(biāo)準(zhǔn)
- BS EN ISO 9220:1989 金屬鍍層.鍍層厚度測(cè)量.掃描電子顯微鏡法
- BS EN ISO 9220:2022 金屬涂層 涂層厚度的測(cè)量 掃描電子顯微鏡法
- BS EN ISO 9220:1995 金屬涂層 涂層厚度的測(cè)量 掃描電子顯微鏡法
- BS ISO 13794:1999 環(huán)境空氣.石棉纖維的測(cè)定.間接傳遞電子顯微鏡法
- 21/30394409 DC BS ENISO 9220 金屬涂層 涂層厚度的測(cè)量 掃描電子顯微鏡法
行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)-商品檢驗(yàn)，關(guān)于電子顯微鏡法的標(biāo)準(zhǔn)
- SN/T 2649.1-2010 進(jìn)出口化妝品中石棉的測(cè)定 第1部分：X射線衍射-掃描電子顯微鏡法
國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)化組織，關(guān)于電子顯微鏡法的標(biāo)準(zhǔn)
- ISO 9220:1988 金屬覆蓋層 鍍層厚度測(cè)量 掃描電子顯微鏡法
- ISO 9220:2022 金屬涂層.涂層厚度的測(cè)量.掃描電子顯微鏡法
- ISO 13794:1999 環(huán)境空氣 石棉纖維的測(cè)定 間接傳遞電子顯微鏡法
- ISO 10312:1995 環(huán)境空氣 石棉纖維的測(cè)定 直接傳遞電子顯微鏡法
法國(guó)標(biāo)準(zhǔn)化協(xié)會(huì)，關(guān)于電子顯微鏡法的標(biāo)準(zhǔn)
- NF A91-108:1995 金屬鍍層.鍍層厚度的測(cè)量.掃描電子顯微鏡法
- NF EN ISO 9220:2022 金屬涂層.涂層厚度的測(cè)量.掃描電子顯微鏡法
- NF A91-108*NF EN ISO 9220:2022 金屬鍍層 鍍層厚度的測(cè)量 掃描電子顯微鏡法
- NF ISO 13794:2020 環(huán)境空氣 石棉纖維測(cè)定 間接轉(zhuǎn)移透射電子顯微鏡法
行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)-教育，關(guān)于電子顯微鏡法的標(biāo)準(zhǔn)
- JY/T 011-1996 透射電子顯微鏡方法通則
歐洲標(biāo)準(zhǔn)化委員會(huì)，關(guān)于電子顯微鏡法的標(biāo)準(zhǔn)
- EN ISO 9220:2022 金屬覆蓋層.鍍層厚度測(cè)量.掃描電子顯微鏡法
- EN ISO 9220:1994 金屬覆蓋層.鍍層厚度測(cè)量.掃描電子顯微鏡法(ISO 9220-1988)
德國(guó)標(biāo)準(zhǔn)化學(xué)會(huì)，關(guān)于電子顯微鏡法的標(biāo)準(zhǔn)
- DIN EN ISO 9220:2022-05 金屬涂層-涂層厚度的測(cè)量-掃描電子顯微鏡法
- DIN EN ISO 9220:2022 金屬覆蓋層 涂層厚度測(cè)量 掃描電子顯微鏡法（ISO 9220:2022）
- DIN EN ISO 9220:1995-01 金屬涂層 用掃描電子顯微鏡法測(cè)量涂層厚度（ISO 9220:1988）
立陶宛標(biāo)準(zhǔn)局，關(guān)于電子顯微鏡法的標(biāo)準(zhǔn)
- LST EN ISO 9220:2001 金屬鍍層-鍍層厚度的測(cè)量-掃描電子顯微鏡法（ISO 9220:1988）
西班牙標(biāo)準(zhǔn)化協(xié)會(huì)，關(guān)于電子顯微鏡法的標(biāo)準(zhǔn)
- AENOR UNE-EN ISO 9220:1996 金屬涂層 涂層厚度的測(cè)量 掃描電子顯微鏡法 (ISO 9220:1988)
- UNE-EN ISO 9220:1996 金屬涂層 涂層厚度的測(cè)量 掃描電子顯微鏡法 （ISO 9220:1988）
