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色譜峰 倒峰
本專題涉及色譜峰 倒峰的標準有32條。
國際標準分類中，色譜峰 倒峰涉及到肉、肉制品和其他動物類食品、絕緣流體、農(nóng)業(yè)和林業(yè)、核能工程、光纖通信、分析化學、有色金屬、光電子學、激光設備、半導體分立器件。
在中國標準分類中，色譜峰 倒峰涉及到、基礎標準和通用方法、煙草、飲料作物與產(chǎn)品、光通信設備、基礎標準與通用方法、化學、通信網(wǎng)編號、信號、接續(xù)、稀有金屬及其合金分析方法、半導體發(fā)光器件。
內(nèi)蒙古自治區(qū)標準，關于色譜峰 倒峰的標準
- DB15/T 612-2013 蒙餐 三色駝峰絲
韓國科技標準局，關于色譜峰 倒峰的標準
- KS C 2375-2006(2021) 氣相色譜峰型比較法測定多氯聯(lián)苯
- KS C 2375-2006(2016) 多氯聯(lián)苯的氣相色譜峰型比較分析方法
- KS C 2375-2006 類多氯聯(lián)苯(PCBs)氣相色譜法通過比較峰值模式分析方法
- KS M 1915-2009 工業(yè)用鄰苯二甲酸酐試驗方法β1,4-萘醌含量的測定β峰比色法
中國團體標準，關于色譜峰 倒峰的標準
- T/JGE 0006.1-2021 江西綠色生態(tài) 橫峰葛
- T/ZLX 018-2021 綠色食品 毛峰類綠茶生產(chǎn)技術規(guī)程
湖南省標準，關于色譜峰 倒峰的標準
- DB43/T 1929-2020 巨峰葡萄綠色優(yōu)質高效栽培技術規(guī)程
國際標準化組織，關于色譜峰 倒峰的標準
- ISO/CD 6863 用于同位素稀釋質譜法（IDMS）的钚和鈾尖峰的制備
- ISO 19830:2015 表面化學分析. 電子能譜. X射線光電子能譜峰擬合的最低報告要求
- ISO 20903:2019 表面化學分析 - 俄歇電子光譜和X射線光電子能譜 - 用于確定峰值強度的方法和報告結果時所需的信息
美國國家標準學會，關于色譜峰 倒峰的標準
- ANSI/TIA/EIA 492CAAB-2000 IVa類低峰險色散無漂移的單模光纖的詳細規(guī)范
- ANSI/TIA-492CAAB-2000 低水量峰值的IVa級色散非位移單模光纖詳細規(guī)范
TIA - Telecommunications Industry Association，關于色譜峰 倒峰的標準
- TIA/EIA-492CAAB-2000 具有低水峰的 IVa 類色散非位移單模光纖詳細規(guī)范
美國材料與試驗協(xié)會，關于色譜峰 倒峰的標準
- ASTM E827-07 用俄歇電子光譜儀的峰值識別元素的標準實施規(guī)程
- ASTM E827-95 通過 Auger 電子光譜測定中的峰值識別元素的標準實施規(guī)程
- ASTM E827-02 通過 Auger 電子光譜測定中的峰值識別元素的標準實施規(guī)程
- ASTM C1871-22 用熱電離質譜儀用雙峰法測定鈾同位素組成的標準試驗方法
- ASTM C1871-18a 用熱電離質譜儀用雙尖峰法測定鈾同位素組成的標準試驗方法
- ASTM C1871-18 用熱電離質譜儀用雙尖峰法測定鈾同位素組成的標準試驗方法
國家市場監(jiān)督管理總局、中國國家標準化管理委員會，關于色譜峰 倒峰的標準
- GB/T 41073-2021 表面化學分析 電子能譜 X射線光電子能譜峰擬合報告的基本要求
- GB/T 24981.1-2020 稀土長余輝熒光粉試驗方法 第1部分：發(fā)射主峰和色品坐標的測定
英國標準學會，關于色譜峰 倒峰的標準
- BS ISO 19830:2015 表面化學分析. 電子能譜. X射線光電子能譜峰擬合的最低報告要求
- BS ISO 20903:2011 表面化學分析.俄歇電子能譜和X-射線光電光譜學.測定峰強度的方法和報告結果要求的信息
- BS ISO 20903:2019 表面化學分析 俄歇電子能譜和X射線光電子能譜 用于確定峰值強度的方法和報告結果時所需的信息
美國電信工業(yè)協(xié)會，關于色譜峰 倒峰的標準
- TIA-492CAAB-2000 低水峰中Iva級色散無遷移單模式光學纖維的詳細規(guī)范
國家質檢總局，關于色譜峰 倒峰的標準
- GB/T 14634.2-2010 燈用稀土三基色熒光粉試驗方法 第2部分：發(fā)射主峰和色度性能的測定
- GB/T 24981.1-2010 稀土長余輝熒光粉試驗方法 第1部分：發(fā)射主峰和色品坐標的測定
- GB/T 28893-2012 表面化學分析.俄歇電子能譜和X射線光電子能譜.測定峰強度的方法和報告結果所需的信息
行業(yè)標準-電子，關于色譜峰 倒峰的標準
- SJ 2355.7-1983 半導體發(fā)光器件測試方法.發(fā)光峰值波長和光譜半寬度的測試方法
- SJ/T 2658.12-2015 半導體紅外發(fā)射二極管測量方法 第12部分:峰值發(fā)射波長和光譜輻射帶寬
- SJ 2658.12-1986 半導體紅外發(fā)光二極管測試方法.峰值發(fā)射波長和光譜半寬度的測試方法
