icp-oes和icp-ms
本專題涉及icp-oes和icp-ms的標(biāo)準(zhǔn)有25條。
國際標(biāo)準(zhǔn)分類中，icp-oes和icp-ms涉及到電子元器件綜合、分析化學(xué)、紡織產(chǎn)品、環(huán)境保護(hù)、電氣工程綜合、道路車輛裝置。
在中國標(biāo)準(zhǔn)分類中，icp-oes和icp-ms涉及到電子元件綜合、機(jī)電工業(yè)污染物排放標(biāo)準(zhǔn)、基礎(chǔ)標(biāo)準(zhǔn)和通用方法。
國家市場監(jiān)督管理總局、中國國家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會，關(guān)于icp-oes和icp-ms的標(biāo)準(zhǔn)
- GB/T 39560.5-2021 電子電氣產(chǎn)品中某些物質(zhì)的測定 第5部分： AAS、AFS、ICP-OES和ICP-MS法測定聚合物和電子件中鎘、鉛、鉻以及金屬中鎘、鉛的含量
- GB/T 39560.4-2021 電子電氣產(chǎn)品中某些物質(zhì)的測定 第4部分：CV-AAS、CV-AFS、ICP-OES和ICP-MS測定聚合物、金屬和電子件中的汞
美國材料與試驗(yàn)協(xié)會，關(guān)于icp-oes和icp-ms的標(biāo)準(zhǔn)
- ASTM E3171-21a 用ICP-OES或ICP-MS分析法測定紡織品中總銀的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法
- ASTM E3171-21e1 用ICP-OES或ICP-MS分析法測定紡織品中總銀的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法
- ASTM E3171-21 用ICP-OES或ICP-MS分析法測定紡織品中總銀的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法
，關(guān)于icp-oes和icp-ms的標(biāo)準(zhǔn)
- KS C IEC 62321-5-2014(2019) 的電工產(chǎn)品中某些物質(zhì)的測定 - 第5部分:在聚合物和電子和鎘鉻鎘 鉛和并且在由AAS金屬鉛 AFS ICP-OES和ICP-MS
- KS C IEC 62321-4-2014(2019) 電工產(chǎn)品中某些物質(zhì)的測定 - 第4部分:聚合物 金屬和電子學(xué)中的汞由Cv-Aas Cv-Afs Icp-Oes和Icp-Ms
法國標(biāo)準(zhǔn)化協(xié)會，關(guān)于icp-oes和icp-ms的標(biāo)準(zhǔn)
- NF C05-100-4/A1-2017 電工產(chǎn)品中某些物質(zhì)的測定. 第4部分: 用CV-AAS、CV-AFS、ICP-OES和ICP-MS測定聚合物、金屬和電子產(chǎn)品中的汞
國際電工委員會，關(guān)于icp-oes和icp-ms的標(biāo)準(zhǔn)
- IEC 62321-4-2013/AMD1-2017 附錄1電工產(chǎn)品中某些物質(zhì)的測定第4部分:用CV-AAS、CV-AFS、ICP-OES和ICP-MS測定聚合物、金屬和電子產(chǎn)品中的汞
- IEC 62321-4:2013+AMD1:2017 CSV 電工產(chǎn)品中某些物質(zhì)的測定第4部分:用CV-AAS、CV-AFS、ICP-OES和ICP-MS測定聚合物、金屬和電子產(chǎn)品中的汞
- IEC 62321-4-2013+AMD1-2017 CSV 電工產(chǎn)品中某些物質(zhì)的測定第4部分:用CV-AAS、CV-AFS、ICP-OES和ICP-MS測定聚合物、金屬和電子產(chǎn)品中的汞
- IEC 62321-4:2013/AMD1:2017 附錄1電工產(chǎn)品中某些物質(zhì)的測定第4部分:用CV-AAS、CV-AFS、ICP-OES和ICP-MS測定聚合物、金屬和電子產(chǎn)品中的汞
- IEC 62321-4 AMD 1-2017 電工制品中特定物質(zhì)的測定.第4部分:通過CV-AAS,CV-AFS,ICP-OES和ICP-MS法測定聚合物, 金屬和電子中的汞.修改件1
- IEC 62321-4 Edition 1.1-2017 電工制品中特定物質(zhì)的測定.第4部分:通過CV-AAS,CV-AFS,ICP-OES和ICP-MS法測定聚合物, 金屬和電子中的汞
- IEC 62321-5:2013 電工產(chǎn)品中某些物質(zhì)的測定 - 第5部分:Aas Afs Icp-Oes和Icp-Ms中的聚合物和電子元件中的鎘 鉛和鉻以及金屬中的鎘和鉛
- IEC 62321-4:2013 電工產(chǎn)品中某些物質(zhì)的測定 - 第4部分:聚合物 金屬和電子學(xué)中的汞由Cv-Aas Cv-Afs Icp-Oes和Icp-Ms
- IEC 62321-5-2013 電工制品中特定物質(zhì)的測定.第5部分:通過原子吸收分光光度法(AAS)、原子熒光光譜法(AFS)、電感耦合等離子體發(fā)射光譜(ICP-OES)和電感耦合等離子體質(zhì)譜(ICP-MS)測定聚合物和電子中鎘、鉛和鉻及金屬中鎘和鉛
- IEC 62321-4-2013 電工制品中特定物質(zhì)的測定. 第4部分: 通過CV-AAS, CV-AFS, ICP-OES和ICP-MS法測定聚合物, 金屬和電子中的汞
英國標(biāo)準(zhǔn)學(xué)會，關(guān)于icp-oes和icp-ms的標(biāo)準(zhǔn)
- BS EN 62321-4-2014 電工技術(shù)產(chǎn)品中某些物質(zhì)的測定. 通過CV-AAS, CV-AFS, ICP-OES和ICP-MS法測定聚合物, 金屬和電子中的汞
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可能用到的儀器設(shè)備
