表面儀 表面 分析
本專題涉及表面儀 表面 分析的標(biāo)準(zhǔn)有116條。
國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)分類中，表面儀 表面 分析涉及到化工設(shè)備、分析化學(xué)、詞匯、光學(xué)和光學(xué)測(cè)量、長(zhǎng)度和角度測(cè)量、聲學(xué)和聲學(xué)測(cè)量、信息技術(shù)應(yīng)用、道路工程、電工器件、建筑物中的設(shè)施、有關(guān)航空航天制造用鍍涂和有關(guān)工藝、造船和海上構(gòu)筑物綜合、軸承、試驗(yàn)、糖、糖制品、淀粉。
在中國(guó)標(biāo)準(zhǔn)分類中，表面儀 表面 分析涉及到投影器、幻燈機(jī)、化工專用儀器儀表、、物理學(xué)與力學(xué)、基礎(chǔ)標(biāo)準(zhǔn)與通用方法、實(shí)驗(yàn)室基礎(chǔ)設(shè)備、量具與量?jī)x、公路工程、化學(xué)助劑、化學(xué)、經(jīng)濟(jì)管理、計(jì)算機(jī)應(yīng)用、滑動(dòng)軸承、儀器、儀表用材料和元件、作業(yè)設(shè)備與儀器儀表。
美國(guó)國(guó)防后勤局，關(guān)于表面儀 表面 分析的標(biāo)準(zhǔn)
- DLA A-A-50767-1983 表面光潔度分析儀
- DLA A-A-50767 VALID NOTICE 3-2006 表面光潔度分析儀
- DLA A-A-50767 VALID NOTICE 2-2001 表面光潔度分析儀
- DLA A-A-50767 VALID NOTICE 1-1995 表面光潔度分析儀
行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)-化工，關(guān)于表面儀 表面 分析的標(biāo)準(zhǔn)
- HG/T 6138-2023 比表面積及孔徑分析儀
中國(guó)團(tuán)體標(biāo)準(zhǔn)，關(guān)于表面儀 表面 分析的標(biāo)準(zhǔn)
- T/ZSA 110-2022 比表面積及孔徑分析儀
韓國(guó)科技標(biāo)準(zhǔn)局，關(guān)于表面儀 表面 分析的標(biāo)準(zhǔn)
- KS D ISO 14706-2003(2018) 表面化學(xué)分析-全反射X-射線熒光分析儀測(cè)定硅片表面元素雜質(zhì)
- KS D ISO 14706-2003(2023) 表面化學(xué)分析-全反射X射線熒光分析儀測(cè)定硅晶片表面元素雜質(zhì)
- KS D ISO 18115-2021 表面化學(xué)分析 詞匯
- KS D ISO 18115:2006 表面化學(xué)分析.詞匯
- KS D ISO 18115-2006(2021) 表面化學(xué)分析詞匯
- KS D ISO 18115-2006(2016) 表面化學(xué)分析詞匯
- KS B 0502-1976 表面粗糙度測(cè)量?jī)x器（表面粗糙度指示法）
- KS D ISO 14707-2003(2023) 表面化學(xué)分析-輝光放電發(fā)射光譜儀（GD-OES）-簡(jiǎn)介
- KS D ISO 19319-2005(2020) 表面化學(xué)分析－俄歇電子能譜和X射線光電子能譜－分析儀橫向分辨率、分析面積和樣品面積的測(cè)定
- KS D ISO 14975-2011(2016) 表面化學(xué)分析信息格式
- KS D ISO 14975-2021 表面化學(xué)分析 信息格式
- KS D ISO 14975-2011(2021) 表面化學(xué)分析信息格式
- KS D ISO 14975:2011 表面化學(xué)分析.信息格式
- KS D ISO 17973-2021 表面化學(xué)分析 中分辨率俄歇電子能譜儀 元素分析能級(jí)的校準(zhǔn)
- KS D ISO TR 15969-2011(2016) 表面化學(xué)分析深度剖面測(cè)量濺射深度
- KS D ISO TR 15969-2011(2021) 表面化學(xué)分析深度剖面濺射深度測(cè)量
國(guó)際卡車和發(fā)動(dòng)機(jī)聯(lián)合會(huì)（US-INTERN改名為US-NAVISTAR)，關(guān)于表面儀 表面 分析的標(biāo)準(zhǔn)
- NAVISTAR CEMS DT-14-2009 通過 ALSA 分析儀定義表面波紋度
- NAVISTAR CEMS DT-14-2016 VOID 通過 ALSA 分析儀定義表面波紋度
國(guó)家質(zhì)檢總局，關(guān)于表面儀 表面 分析的標(biāo)準(zhǔn)
- GB/T 13592-1992 表面分析術(shù)語(yǔ)
- GB/T 22461-2008 表面化學(xué)分析.詞匯
- GB/T 25187-2024 表面化學(xué)分析 俄歇電子能譜 選擇儀器性能參數(shù)的表述
- GB/T 25187-2010 表面化學(xué)分析.俄歇電子能譜.選擇儀器性能參數(shù)的表述
- GB/T 28892-2024 表面化學(xué)分析 X射線光電子能譜 選擇儀器性能參數(shù)的表述
- GB/T 28892-2012 表面化學(xué)分析.X射線光電子能譜.選擇儀器性能參數(shù)的表述
- GB/T 21007-2007 表面化學(xué)分析 信息格式
- GB/T 28894-2012 表面化學(xué)分析.分析前樣品的處理
國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)化組織，關(guān)于表面儀 表面 分析的標(biāo)準(zhǔn)
- ISO/DIS 20579-2:2024 表面化學(xué)分析
- ISO/CD 24237:2023 表面化學(xué)分析
- ISO/CD 20289:2017 表面化學(xué)分析
- ISO/CD 20579-2:2023 表面化學(xué)分析
- ISO 18118:2022 表面化學(xué)分析
- ISO 15472:2010 表面化學(xué)分析.X射線光電譜儀.能量刻度表校準(zhǔn)
- ISO 15472:2001 表面化學(xué)分析 X射線光電譜儀 能量刻度表校準(zhǔn)
- ISO/CD 13473-4 利用表面輪廓表征路面結(jié)構(gòu) 第4部分：表面輪廓的光譜分析
- ISO 18115:2001 表面化學(xué)分析 詞匯
- ISO/TS 13473-4:2008 表面外觀路面結(jié)構(gòu)的特性.第4部分:表面輪廓的光譜分析
- ISO/DIS 13473-4 利用表面輪廓表征路面結(jié)構(gòu) 第4部分：表面輪廓的三分之一倍頻程光譜分析
- ISO 18117:2009 表面化學(xué)分析.樣品處理前分析
- ISO 14975:2000 表面化學(xué)分析 信息格式
- ISO/TR 14187:2020 表面化學(xué)分析 - 納米結(jié)構(gòu)材料的表征
- ISO 17331:2004/Amd 1:2010 表面化學(xué)分析.硅晶片加工標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)表面元素收集用化學(xué)方法和及其光分析儀(TXRF)光譜學(xué)測(cè)定.修改件1
- ISO/DIS 17973:2023 表面化學(xué)分析 中分辨率俄歇電子能譜儀 元素分析能級(jí)的校準(zhǔn)
美國(guó)材料與試驗(yàn)協(xié)會(huì)，關(guān)于表面儀 表面 分析的標(biāo)準(zhǔn)
- ASTM STP 699-1980 應(yīng)用表面分析
- ASTM STP 643-1978(1986) 定量表面分析技術(shù)
- ASTM STP 596-1976 冶金應(yīng)用的表面分析技術(shù)
法國(guó)標(biāo)準(zhǔn)化協(xié)會(huì)，關(guān)于表面儀 表面 分析的標(biāo)準(zhǔn)
- NF X21-055:2006 表面化學(xué)分析.X射線光電譜儀.能量刻度表校準(zhǔn)
- NF ISO 18117:2009 表面化學(xué)分析 分析前樣品的處理
- NF EN ISO 25178-700:2023 產(chǎn)品幾何規(guī)范 (GPS) - 表面光潔度：表面 - 第 700 部分：表面形貌測(cè)量?jī)x器的校準(zhǔn)、調(diào)整和驗(yàn)證
AT-ON，關(guān)于表面儀 表面 分析的標(biāo)準(zhǔn)
- ONORM M 1113-1982 技術(shù)曲面．表面分析方法
日本工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)調(diào)查會(huì)，關(guān)于表面儀 表面 分析的標(biāo)準(zhǔn)
- JIS B 0651:1996 表面紋理.表面紋理評(píng)定用儀器.斷面法
- JIS K 0147:2004 表面化學(xué)分析.詞匯
- JIS K 0142:2000 表面化學(xué)分析.信息格式
RO-ASRO，關(guān)于表面儀 表面 分析的標(biāo)準(zhǔn)
- STAS 11195-1987 表面劑分析方法
- SR 110-9-1995 糖．分析方法．測(cè)定表面質(zhì)量
德國(guó)標(biāo)準(zhǔn)化學(xué)會(huì)，關(guān)于表面儀 表面 分析的標(biāo)準(zhǔn)
- DIN ISO/TS 13473-4:2009-02 使用表面輪廓表征路面紋理 第4部分：表面輪廓的光譜分析
- DIN ISO/TS 13473-4:2009 通過使用表面輪廓表征路面結(jié)構(gòu).第4部分:表面輪廓的光譜分析
- DIN VDE 0603-2-1:2017 儀表面板. 第2-1部分: 最高63 A的直接測(cè)量用儀表面板
- DIN VDE 0603-3-3 Berichtigung 1:2021 儀表面板 第 3-3 部分：儀表的端子連接器；勘誤表 1
- DIN ISO 15472 E:2019-09 表面化學(xué)分析 X 射線光電子能譜儀 能標(biāo)校準(zhǔn)
- DIN ISO 13473-3:2004-07 使用表面輪廓表征路面紋理 第3部分：輪廓儀的規(guī)格和分類
阿曼規(guī)格和計(jì)量局，關(guān)于表面儀 表面 分析的標(biāo)準(zhǔn)
- OS GSO ISO/TS 13473-4:2014 使用表面輪廓表征路面紋理 第4部分：表面輪廓的光譜分析
- OS GSO ISO/TR 14187:2013 表面化學(xué)分析 納米結(jié)構(gòu)材料的表征
- OS GSO ISO 17973:2013 表面化學(xué)分析 中分辨率俄歇電子能譜儀 元素分析能級(jí)的校準(zhǔn)
海灣阿拉伯國(guó)家合作委員會(huì)標(biāo)準(zhǔn)組織，關(guān)于表面儀 表面 分析的標(biāo)準(zhǔn)
- GSO ISO/TS 13473-4:2014 使用表面輪廓表示路面結(jié)構(gòu) 第4部分：表面輪廓的光譜分析
- GSO ISO 14976:2013 表面化學(xué)分析 數(shù)據(jù)傳輸表
- GSO ISO 14975:2013 表面化學(xué)分析 數(shù)據(jù)模型
- GSO ISO/TR 14187:2013 表面化學(xué)分析 納米結(jié)構(gòu)材料的表征
- GSO ISO 18117:2013 表面化學(xué)分析 分析前樣品的處理
- GSO ISO 17973:2013 表面化學(xué)分析 中分辨率俄歇電子能譜儀 元素分析能級(jí)的校準(zhǔn)
YU-JUS，關(guān)于表面儀 表面 分析的標(biāo)準(zhǔn)
- JUS H.E0.005-1979 表面活性劑．詞匯．分析列表
德國(guó)電氣，電子和信息技術(shù)協(xié)會(huì)，關(guān)于表面儀 表面 分析的標(biāo)準(zhǔn)
- VDE 0603-3-3-2017 儀表面板 第 3-3 部分：儀表端子連接器
- VDE 0603-3-3-2018 儀表面板 第 3-3 部分：儀表端子連接器
- VDE 0603-2-1-2016 儀表面板 第 2-1 部分：用于直接測(cè)量高達(dá) 63 A 的儀表面板
- VDE 0603-2-1-2017 儀表面板 第 2-1 部分：用于直接測(cè)量高達(dá) 63 A 的儀表面板
- VDE V 0603-102-2006 消費(fèi)單元和儀表面板 AC 400 V 第 102 部分：電子儀表 (eHZ) 消費(fèi)單元和儀表面板的特殊要求
英國(guó)標(biāo)準(zhǔn)學(xué)會(huì)，關(guān)于表面儀 表面 分析的標(biāo)準(zhǔn)
- BS ISO 18115:2001 表面化學(xué)分析 詞匯
- BS ISO 18115:2001+A2:2007 表面化學(xué)分析 詞匯
- BS ISO 13473-4:2024 使用表面輪廓表征路面紋理 表面輪廓的三分之一倍頻程光譜分析
- BS ISO 13424:2013 表面化學(xué)分析.X射線光譜.薄膜分析報(bào)表
- BS EN IEC 61207-3:2019 氣體分析儀 表現(xiàn)表現(xiàn) 順磁氧分析儀
- DD ISO/TS 13473-4:2008 使用表面輪廓表征路面紋理 紋理輪廓的光譜分析
- BS PD ISO/TR 19319:2003 表面化學(xué)分析 俄歇電子能譜和X射線光電子能譜 分析儀橫向分辨率、分析面積和樣品面積的測(cè)定
- BS ISO 14975:2000 表面化學(xué)分析.信息格式
- BS PD ISO/TR 14187:2011 表面化學(xué)分析 納米結(jié)構(gòu)材料的表征
- BS ISO 14975:2000(2012) 表面化學(xué)分析——信息格式
- BS ISO 14975:2001 表面化學(xué)分析 信息格式
- PD ISO/TR 14187:2020 表面化學(xué)分析 納米結(jié)構(gòu)材料的表征
- BS PD ISO/TR 14187:2020 表面化學(xué)分析 納米結(jié)構(gòu)材料的表征
- BS ISO 18117:2009(2015) 表面化學(xué)分析——分析前樣品的處理
- BS EN IEC 61098:2024 輻射防護(hù)儀器儀表 安裝人員表面污染監(jiān)測(cè)儀
- BS ISO 18117:2009 表面化學(xué)分析.分析前樣品的處理
- BS ISO 18115-3:2022 表面化學(xué)分析 詞匯 光學(xué)界面分析中使用的術(shù)語(yǔ)
- BS DD ISO/TS 13473-4:2008 通過使用表面輪廓表征路面結(jié)構(gòu).結(jié)構(gòu)輪廓的光譜分析
- BS 6829-0:1989 表面活性劑（原料）分析 概述
- 23/30475865 DC BS ISO 13473-4 使用表面輪廓表征路面紋理 第4部分：表面輪廓的三分之一倍頻程光譜分析
- BS 6829-0:1987 表面活性劑（原料）分析 概述
澳大利亞標(biāo)準(zhǔn)協(xié)會(huì)，關(guān)于表面儀 表面 分析的標(biāo)準(zhǔn)
- AS ISO 18115:2006 表面化學(xué)分析．詞匯
- AS ISO 14975:2006 表面化學(xué)分析．信息格式
美國(guó)機(jī)動(dòng)車工程師協(xié)會(huì)，關(guān)于表面儀 表面 分析的標(biāo)準(zhǔn)
- SAE ARP4252-1989 確定表面清潔度R的儀器(分析)方法R(1995)
行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)-船舶，關(guān)于表面儀 表面 分析的標(biāo)準(zhǔn)
- CB 1085.4-1989 儀器儀表制造工時(shí)定額 表面處理
國(guó)家計(jì)量檢定規(guī)程，關(guān)于表面儀 表面 分析的標(biāo)準(zhǔn)
- JJG 478-2016 α、β表面污染儀
丹麥標(biāo)準(zhǔn)化協(xié)會(huì)，關(guān)于表面儀 表面 分析的標(biāo)準(zhǔn)
- DANSK DS/ISO 13473-4:2024 利用表面輪廓表征路面紋理 第4部分：表面輪廓的三分之一倍頻程光譜分析
中華人民共和國(guó)國(guó)家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局、中國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)，關(guān)于表面儀 表面 分析的標(biāo)準(zhǔn)
- GB/T 33498-2017 表面化學(xué)分析 納米結(jié)構(gòu)材料表征
巴林國(guó)家計(jì)量局，關(guān)于表面儀 表面 分析的標(biāo)準(zhǔn)
- BH GSO ISO 14975:2016 表面化學(xué)分析 信息格式
- BH GSO ISO 18117:2016 表面化學(xué)分析 分析前樣品的處理
- BH GSO ISO 17973:2016 表面化學(xué)分析 中分辨率俄歇電子能譜儀 元素分析能級(jí)的校準(zhǔn)
- BH GSO ISO 13473-3:2016 使用表面輪廓表征路面紋理 第3部分：輪廓儀的規(guī)格和分類
行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)-機(jī)械，關(guān)于表面儀 表面 分析的標(biāo)準(zhǔn)
- JB/T 6791-2010 儀器儀表用端面寶石軸承
- JB/T 6791-1993 儀器儀表用端面寶石軸承
AWS - American Welding Society，關(guān)于表面儀 表面 分析的標(biāo)準(zhǔn)
- C4.1 SET-1977 氧切割表面粗糙度測(cè)量?jī)x和描述氧切割表面標(biāo)準(zhǔn)的圖表
