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DEmicroscopio de electrones
microscopio de electrones, Total: 495 artículos.
En la clasificación estándar internacional, las clasificaciones involucradas en microscopio de electrones son: óptica y medidas ópticas., Química analítica, Equipo óptico, pruebas de metales, Vocabularios, Metrología y medición en general., Calidad del aire, Materiales de construcción, Soldadura, soldadura fuerte y soldadura fuerte., Ceras, materias bituminosas y otros productos petrolíferos, Medidas lineales y angulares., Educación, Conjuntos de componentes electrónicos., Metales no ferrosos, Equipo medico, Optoelectrónica. Equipo láser, Componentes electrónicos en general., Roscas de tornillo, sujetadores, Protección contra el crimen, Termodinámica y mediciones de temperatura., Combustibles, Dibujos tecnicos, Tratamiento superficial y revestimiento., Dispositivos de visualización electrónica., Construcción naval y estructuras marinas en general, Sistemas de máquinas herramienta, Materiales para el refuerzo de composites..
WRC - Welding Research Council, microscopio de electrones
- BULLETIN 98-1964 ANáLISIS DE FALLA DEL BUQUE PVRC NO. 5; PARTE 1 – ESTUDIO DE PROPIEDADES DE LOS MATERIALES Y DESARROLLO DE FRACTURAS; PARTE 2 – UN ESTUDIO FRACTOGRAFICO CON MICROSCOPIO ELECTRóNICO DE PORCIONES SELECCIONADAS DEL FR
Professional Standard - Machinery, microscopio de electrones
International Organization for Standardization (ISO), microscopio de electrones
- ISO/TS 21383:2021 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica de barrido - Cualificación del microscopio electrónico de barrido para mediciones cuantitativas
- ISO/DIS 25498:2024 Análisis de microhaces-Microscopía electrónica analítica-Análisis de difracción de electrones de área seleccionada utilizando un microscopio electrónico de transmisión
- ISO/CD 25498:2023 Análisis de microhaces. Microscopía electrónica analítica. Análisis de difracción de electrones de áreas seleccionadas utilizando un microscopio electrónico de transmisión.
- ISO 8036:2006 óptica y fotónica - Microscopios - Líquidos de inmersión para microscopía óptica
- ISO 15932:2013 Análisis de microhaces. Microscopía electrónica analítica. Vocabulario
- ISO 8036:2015 Microscopios - Líquidos de inmersión para microscopía óptica
- ISO/CD 19214:2023 Análisis de microhaces. Microscopía electrónica analítica. Método de determinación de la dirección de crecimiento aparente de cristales en forma de alambre mediante microscopía electrónica de transmisión.
- ISO 19214:2024 Análisis de microhaz — Microscopía electrónica analítica — Método de determinación de la dirección de crecimiento aparente de nanocristales mediante microscopía electrónica de transmisión
- ISO 8038:2011 Microscopios: roscas de tornillos para objetivos y revólveres relacionados
- ISO 22493:2008 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica de barrido - Vocabulario
- ISO 9344:2011 Microscopios - Retículas para oculares
- ISO 16700:2004 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica de barrido - Directrices para calibrar la ampliación de imágenes
- ISO 16700:2016 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica de barrido - Directrices para calibrar la ampliación de imágenes
- ISO/PRF 19012-4:2024 microscopios
- ISO 25498:2018 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica analítica - Análisis de difracción de electrones de áreas seleccionadas mediante un microscopio electrónico de transmisión
- ISO 25498:2010 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica analítica - Análisis de difracción de electrones de área seleccionada utilizando un microscopio electrónico de transmisión
- ISO 19214:2017 Análisis de microhaz - Microscopía electrónica analítica - Método de determinación de la dirección de crecimiento aparente de cristales en forma de alambre mediante microscopía electrónica de transmisión
- ISO 21073:2019 Microscopios — Microscopios confocales — Datos ópticos de microscopios confocales de fluorescencia para imágenes biológicas
- ISO 19012-2:2013 Microscopios - Designación de los objetivos del microscopio - Parte 2: Corrección cromática
- ISO 9344:2016 Microscopios - Retículas para oculares
- ISO/DIS 19012-4 Microscopios. Designación de objetivos de microscopio. Parte 4: Características de polarización.
- ISO 11884-2:2007 óptica y fotónica. Requisitos mínimos para microscopios estereoscópicos. Parte 2: Microscopios de alto rendimiento.
- ISO 11884-1:2006 óptica y fotónica. Requisitos mínimos para microscopios estereoscópicos. Parte 1: Microscopios estereoscópicos para uso general.
- ISO 19012-1:2013 Microscopios. Designación de los objetivos del microscopio. Parte 1: Planitud del campo/Plano
- ISO 11883:1997 óptica e instrumentos ópticos - Microscopios - Marcado de microscopios estereoscópicos
- ISO 19012-1:2011 Microscopios - Designación de los objetivos del microscopio - Parte 1: Planitud del campo/Plano
- ISO 8038:2013 Microscopios. Roscas para objetivos y revólveres relacionados.
- ISO 15227:2000 óptica e instrumentos ópticos - Microscopios - Ensayos de microscopios estereoscópicos
- ISO 8578:2012 Microscopios - Marcado de objetivos y oculares
- ISO 19012-3:2015 Microscopios - Designación de objetivos de microscopio - Parte 3: Transmitancia espectral
- ISO 19056-3:2022 Microscopios. Definición y medición de las propiedades de iluminación. Parte 3: Microscopía de fluorescencia de luz incidente con fuentes de luz incoherentes.
- ISO 23729:2022 Análisis químico de superficies. Microscopía de fuerza atómica. Directrices para el procedimiento de restauración de imágenes de microscopía de fuerza atómica dilatadas por un tama?o de sonda finito.
- ISO/TS 24597:2011 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica de barrido - Métodos de evaluación de la nitidez de la imagen
- ISO 8576:1996 óptica e instrumentos ópticos - Microscopios - Sistema de referencia de microscopía de luz polarizada
- ISO 21466:2019 Análisis de microhaces. Microscopía electrónica de barrido. Método para evaluar dimensiones críticas mediante CD-SEM.
- ISO 9220:1988 Recubrimientos metálicos; medición del espesor del recubrimiento; método de microscopio electrónico de barrido
- ISO 10934-1:2002 óptica e instrumentos ópticos - Vocabulario de microscopía - Parte 1: Microscopía óptica
- ISO 9220:2022 Recubrimientos metálicos. Medición del espesor del recubrimiento. Método del microscopio electrónico de barrido.
- ISO 10934:2020 óptica e instrumentos ópticos. Vocabulario de microscopía. Parte 1: Microscopía óptica.
GSO, microscopio de electrones
- OS GSO ISO 25498:2015 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica analítica - Análisis de difracción de electrones de área seleccionada utilizando un microscopio electrónico de transmisión
- BH GSO ISO 25498:2017 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica analítica - Análisis de difracción de electrones de área seleccionada utilizando un microscopio electrónico de transmisión
- GSO ISO 25498:2015 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica analítica - Análisis de difracción de electrones de área seleccionada utilizando un microscopio electrónico de transmisión
- OS GSO ISO 15932:2015 Análisis de microhaces -- Microscopía electrónica analítica -- Vocabulario
- GSO ISO 15932:2015 Análisis de microhaces -- Microscopía electrónica analítica -- Vocabulario
- BH GSO ISO 15932:2017 Análisis de microhaces -- Microscopía electrónica analítica -- Vocabulario
- BH GSO ISO 22493:2017 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica de barrido - Vocabulario
- GSO ISO 22493:2015 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica de barrido - Vocabulario
- OS GSO ISO 8036:2015 óptica y fotónica -- Microscopios -- Líquidos de inmersión para microscopía óptica
- GSO ISO 8036:2015 óptica y fotónica -- Microscopios -- Líquidos de inmersión para microscopía óptica
- GSO ISO 8038:2015 Microscopios - Roscas de tornillos para objetivos y revólveres relacionados
- BH GSO ISO 8038:2016 Microscopios - Roscas de tornillos para objetivos y revólveres relacionados
- OS GSO ISO 9344:2015 Microscopios - Retículas para oculares
- GSO ISO/TS 24597:2013 Análisis de microhaces -- Microscopía electrónica de barrido -- Métodos de evaluación de la nitidez de la imagen
- GSO ISO 19012-1:2015 Microscopios - Designación de los objetivos del microscopio - Parte 1: Planitud del campo/Plano
- BH GSO ISO 11883:2016 óptica e instrumentos ópticos -- Microscopios -- Marcado de microscopios estereoscópicos
- GSO ISO 15227:2015 óptica e instrumentos ópticos -- Microscopios -- Ensayos de microscopios estereoscópicos
- GSO ISO 11883:2013 óptica e instrumentos ópticos -- Microscopios -- Marcado de microscopios estereoscópicos
- BH GSO ISO 15227:2016 óptica e instrumentos ópticos -- Microscopios -- Ensayos de microscopios estereoscópicos
- OS GSO ISO 8578:2015 Microscopios - Marcado de objetivos y oculares
- OS GSO ISO/TS 24597:2013 Análisis de microhaces -- Microscopía electrónica de barrido -- Métodos de evaluación de la nitidez de la imagen
- GSO ISO 9344:2015 Microscopios - Retículas para oculares
- BH GSO ISO 8576:2016 óptica e instrumentos ópticos -- Microscopios -- Sistema de referencia de microscopía de luz polarizada
- BH GSO ISO 19012-1:2016 Microscopios - Designación de los objetivos del microscopio - Parte 1: Planitud del campo/Plano
- GSO ISO 9220:2013 Recubrimientos metálicos -- Medición del espesor del recubrimiento -- Método del microscopio electrónico de barrido
- GSO ISO 10935:2015 Microscopios - Conexión de interfaz tipo C
- BH GSO ISO 10934-1:2016 óptica e instrumentos ópticos -- Vocabulario de microscopía -- Parte 1: Microscopía óptica
- OS GSO ISO 10934-1:2013 óptica e instrumentos ópticos -- Vocabulario de microscopía -- Parte 1: Microscopía óptica
- OS GSO ISO 10936-2:2016 óptica y fotónica. Microscopios quirúrgicos. Parte 2: Peligro de luz procedente de los microscopios quirúrgicos utilizados en cirugía ocular.
- BH GSO ISO 10936-2:2017 óptica y fotónica. Microscopios quirúrgicos. Parte 2: Peligro de luz procedente de los microscopios quirúrgicos utilizados en cirugía ocular.
- GSO ISO 10936-2:2016 óptica y fotónica. Microscopios quirúrgicos. Parte 2: Peligro de luz procedente de los microscopios quirúrgicos utilizados en cirugía ocular.
British Standards Institution (BSI), microscopio de electrones
- BS ISO 25498:2018 Cambios rastreados. Análisis de microhaces. Microscopía electrónica analítica. Análisis de difracción de electrones de áreas seleccionadas mediante un microscopio electrónico de transmisión.
- 24/30479937 DC BS ISO 25498 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica analítica - Análisis de difracción de electrones de área seleccionada utilizando un microscopio electrónico de transmisión
- BS ISO 19214:2024 Análisis de microhaz. Microscopio electrónico analítico. Método de determinación de la dirección aparente de crecimiento de nanocristales mediante microscopía electrónica de transmisión
- BS ISO 10934:2020 Microscopios. Vocabulario para microscopía óptica.
- 18/30319114 DC BS ISO 20171. Análisis de microhaces. Microscopía electrónica de barrido. Formato de archivo de imagen etiquetado para microscopía electrónica de barrido (TIFF/SEM)
- BS ISO 19012-2:2013 Microscopios. Designación de objetivos de microscopio. Corrección cromática
- BS ISO 19012-4:2024 Microscopios. Designación de objetivos del microscopio - Características de polarización.
- BS ISO 8036:2015 Cambios rastreados. Microscopios. Líquidos de inmersión para microscopía óptica.
- BS ISO 19012-2:2010 óptica y fotónica. Designación de objetivos de microscopio. Corrección cromática
- BS 7012-10.2:1997 Microscopios ópticos - Requisitos mínimos para microscopios estereoscópicos - Microscopios de alto rendimiento
- 24/30474499 DC BS ISO 19214 Análisis de microhaces. Microscopía electrónica analítica. Método de determinación de la dirección de crecimiento aparente de cristales en forma de alambre mediante microscopía electrónica de transmisión.
- BS ISO 11884-2:2007 óptica y fotónica. Requisitos mínimos para microscopios estereoscópicos. Microscopios de alto rendimiento
- BS ISO 16700:2004 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica de barrido - Directrices para calibrar la ampliación de imágenes
- BS 7012-14:1997 Microscopios ópticos. Marcado de microscopios estereoscópicos.
- 19/30387825 DC BS ISO 10934. Microscopios. Vocabulario para microscopía óptica.
- BS ISO 8036:2006 óptica y fotónica - Microscopios - Líquidos de inmersión para microscopía óptica
- BS ISO 11884-1:2006 óptica y fotónica - Requisitos mínimos para microscopios estereoscópicos - Microscopios estereoscópicos de uso general
- 24/30466813 DC Microscopios BS ISO 10934: vocabulario para microscopía óptica
- BS 7012-10.1:1998 Microscopios ópticos - Requisitos mínimos para microscopios estereoscópicos - Microscopios estereoscópicos para uso general
- BS ISO 25498:2010 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica analítica - Análisis de difracción de electrones de área seleccionada utilizando un microscopio electrónico de transmisión
- BS 7012-12:1997 Microscopios ópticos. Sistema de referencia de microscopía de luz polarizada.
- BS ISO 19012-1:2013 Microscopios. Designación de objetivos de microscopio. Planitud del campo/Plano
- BS ISO 19012-3:2015 Microscopios. Designación de objetivos de microscopio. transmitancia espectral
- BS ISO 9344:2011 Microscopios. Retículas para oculares
- BS ISO 9344:2016 Microscopios. Retículas para oculares
- BS ISO 21073:2019 Microscopios. Microscopios confocales. Datos ópticos de microscopios confocales de fluorescencia para imágenes biológicas.
- BS ISO 10934-1:2003 óptica e instrumentos ópticos - Vocabulario de microscopía - Microscopía óptica
- BS 7012-1:1998 Microscopios ópticos: especificación para el poder de aumento de los componentes de imágenes de microscopios
- BS ISO 19056-2:2019 Microscopios. Definición y medición de propiedades de iluminación - Propiedades de iluminación relacionadas con el color en microscopía de campo brillante
- 18/30339977 DC BS ISO 21073. Microscopios. Microscopios confocales. Datos ópticos de microscopios confocales de fluorescencia para imágenes biológicas.
- BS ISO 19056-3:2022 Microscopios. Definición y medición de propiedades de iluminación: microscopía de fluorescencia de luz incidente con fuentes de luz incoherentes.
- BS 7012-8:1997 Microscopios ópticos - Gratis para oculares
- BS ISO 8038:2013 Microscopios. Roscas de tornillos para objetivos y revólveres relacionados
- BS ISO 8578:2012 Microscopios. Marcado de objetivos y oculares.
- BS ISO 21466:2019 Análisis de microhaces. Microscopía electrónica de barrido. Método de evaluación de dimensiones críticas por CDSEM
- BS ISO 16700:2016 Cambios rastreados. Análisis de microhaces. Microscopía electrónica de barrido. Directrices para calibrar la ampliación de la imagen
- 23/30444981 DC BS ISO 19012-4. Microscopios. Designación de objetivos de microscopio - Parte 4. Características de polarización
- BS 7012-15:1997 Microscopios ópticos - Marcado de objetivos y oculares
- BS EN ISO 14880-1:2005 óptica y fotónica - Conjunto de microlentes - Vocabulario
- BS ISO 23729:2022 Análisis químico de superficies. Fuerza atómica microscópica. Directrices para el procedimiento de restauración de imágenes de microscopía de fuerza atómica dilatadas por un tama?o de sonda finito
- BS ISO 15227:2000 óptica e instrumentos ópticos - Microscopios - Ensayos de microscopios estereoscópicos
- BS EN ISO 9220:1989 Recubrimientos metálicos - Medición del espesor del recubrimiento - Método del microscopio electrónico de barrido
- BS EN ISO 9220:2022 Cambios rastreados. Recubrimientos metálicos. Medición del espesor del recubrimiento. Método del microscopio electrónico de barrido.
- BS 7012-4.1:1998 Microscopios ópticos - Especificación para las roscas de los tornillos del objetivo y del revólver del microscopio - Tipo de rosca RMS (4/5 pulg. x 1/36 pulg.)
Japanese Industrial Standards Committee (JISC), microscopio de electrones
工業(yè)和信息化部, microscopio de electrones
- YB/T 4676-2018 Análisis de fases precipitadas en acero mediante microscopía electrónica de transmisión
Korean Agency for Technology and Standards (KATS), microscopio de electrones
SCC, microscopio de electrones
- BS ISO 22493:2008 Análisis de microhaces. Microscopía electrónica de barrido. Vocabulario
- 06/30128226 DC ISO 22493. Análisis de microhaces. Microscopía electrónica de barrido. Vocabulario
- 12/30245653 DC BS ISO 15932. Análisis de microhaces. Microscopía electrónica analítica. Vocabulario
- AENOR UNE 1059:1956 Microcopia.
- BS ISO 8038:2011 Microscopios. Roscas de tornillos para objetivos y revólveres relacionados
- BS 7012-4:1989 Microscopios ópticos: especificación para las roscas del objetivo del microscopio y del revólver
- 13/30272924 DC BS ISO 8038. Microscopios. Roscas de tornillos para objetivos y revólveres relacionados
- 10/30199404 DC BS ISO 8038. Microscopios. Roscas de tornillos para objetivos y revólveres relacionados
- BS ISO 19012-1:2011 Microscopios. Designación de objetivos del microscopio-Planitud del campo/Plano
- BS 3836-2:1965 Especificación de componentes de microscopios. Dimensiones y marcado de microscopios.
- BS ISO 10934-1:2002 óptica e instrumentos ópticos. Vocabulario de microscopía-Microscopía óptica
- BS 3836-1:1964 Especificación de componentes de microscopios. Cubreobjetos y portaobjetos para microscopio.
- BS 7012-16:1997 Microscopios ópticos-Diámetro de oculares intercambiables para microscopios con longitud de tubo de 160 mm
- DIN 58881:1956 Microscopios - Oculares, dimensiones de ajuste
- 12/30266267 DC BS ISO 19012-1. Microscopios. Designación de objetivos de microscopio. Planitud del campo/Plano
- BS 7012-1:1990 Microscopios ópticos: especificación para el poder de aumento de los componentes de imágenes de microscopios.
- DIN 58889:1986 Lentes y oculares para microscopios - Marcado
- BS ISO 19012-2:2009 óptica y fotónica. Designación de objetivos del microscopio-Corrección cromática.
- VDI 3866 BLATT 5-2017 Determinación del amianto en productos técnicos: método de microscopía electrónica de barrido
- DIN 58878:1978 Designación de colores de objetivos para microscopios.
- DANSK DS/ISO 9220:2022 Recubrimientos metálicos – Medición del espesor del recubrimiento – Método del microscopio electrónico de barrido
- 09/30199298 DC BS ISO 9344. Microscopios. Retículas para oculares
- BS 3836-1:1974 Especificación de componentes de microscopios.-Cubreobjetos y portaobjetos para microscopio y líquido de inmersión.
- ISO 8036:2015 Plus Redline Microscopios - Líquidos de inmersión para microscopía óptica (incluye Versión Redline)
- 08/30138435 DC BS ISO 24597. Análisis de microhaces. Microscopía electrónica de barrido. Métodos para la evaluación de la nitidez de la imagen.
- 13/30203227 DC BS ISO 13083. Análisis químico de superficies. Microscopía de sonda de barrido. Normas sobre la definición y calibración de la resolución espacial de la Microscopía de Resistencia a la Difusión de Barrido y la Microscopía de Capacitancia de Barrido
- BS EN ISO 9220:1995 Recubrimientos metálicos. Medición del espesor del recubrimiento. Método del microscopio electrónico de barrido.
- VDI 3866 BLATT 4-2002 Determinación de amianto en productos técnicos: método microscópico de contraste de fases
Association Francaise de Normalisation, microscopio de electrones
- NF ISO 15932:2014 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica analítica - Vocabulario
- NF X21-005:2006 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica de barrido - Directrices para calibrar la ampliación de imágenes.
- NF ISO 21073:2020 Microscopios - Microscopios confocales - Datos ópticos de microscopios de fluorescencia confocales para imágenes biológicas
- NF S10-500*NF ISO 21073:2020 Microscopios - Microscopios confocales - Datos ópticos de microscopios confocales de fluorescencia para imágenes biológicas
- XP ISO/TS 24597:2011 Análisis de microhaces: microscopía electrónica de barrido: métodos para evaluar la nitidez de la imagen
- XP X21-015*XP ISO/TS 24597:2011 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica de barrido - Métodos de evaluación de la nitidez de la imagen
- NF A91-108:1995 Recubrimientos metálicos. Medición del espesor del recubrimiento. Método del microscopio electrónico de barrido.
- NF EN ISO 9220:2022 Recubrimientos metálicos - Medición del espesor del recubrimiento - Método del microscopio electrónico de barrido
- NF X11-660:1983 Tama?o de partícula - Análisis del tama?o de partícula mediante microscopía óptica - Información general sobre el microscopio.
- X11-660:1983 Análisis del tama?o de partículas mediante el método del microscopio óptico. Indicaciones generales sobre microscopio.
- NF A91-108*NF EN ISO 9220:2022 Recubrimientos metálicos - Medición del espesor del recubrimiento - Método del microscopio electrónico de barrido
KR-KS, microscopio de electrones
- KS D ISO 22493-2022 Análisis de microhaces —Microscopía electrónica de barrido — Vocabulario
- KS B 5616-2023 Oculares para microscopio biológico
- KS D 2716-2023 Medición del diámetro de nanopartículas: microscopio electrónico de transmisión
- KS D ISO 16700-2023 Análisis de microhaces. Microscopía electrónica de barrido. Directrices para calibrar la ampliación de imágenes.
- KS B ISO 15227-2023 óptica e instrumentos ópticos — Microscopios — Ensayos de microscopios estereoscópicos
- KS P ISO 10936-2-2020 óptica y fotónica. Microscopios quirúrgicos. Parte 2: Peligro luminoso procedente de los microscopios quirúrgicos utilizados en cirugía ocular.
- KS B ISO 15227-2018 óptica e instrumentos ópticos — Microscopios — Ensayos de microscopios estereoscópicos
- KS B 5614-2023 Microscopios estereoscópicos binoculares
- KS B ISO 8576-2023 óptica e instrumentos ópticos — Microscopios — Sistema de referencia de microscopía de luz polarizada
- KS B ISO 10934-1-2019 óptica e instrumentos ópticos. Vocabulario de microscopía. Parte 1: Microscopía óptica.
Professional Standard - Education, microscopio de electrones
- JY/T 011-1996 Principios generales de la microscopía electrónica de transmisión.
- JY/T 0584-2020 Reglas generales para métodos analíticos de microscopía electrónica de barrido.
- JY/T 0581-2020 Reglas generales para los métodos de análisis de microscopía electrónica de transmisión.
- JY/T 0585-2020 Reglas generales para métodos analíticos de microscopía metalográfica.
- JY/T 012-1996 Reglas generales para microscopía metalográfica.
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National Metrological Technical Specifications of the People's Republic of China, microscopio de electrones
- JJF 1916-2021 Especificación de calibración para microscopios electrónicos de barrido (SEM)
- JJF 1914-2021 Especificación de calibración para microscopios metalúrgicos
Group Standards of the People's Republic of China, microscopio de electrones
- T/CSTM 00162-2020 Métodos de calibración para microscopio electrónico de transmisión.
- T/SZBX 096-2022 Microscopios operativos
- T/QGCML 1940-2023 Dispositivo de prueba mecánica de alta temperatura in situ con microscopio electrónico de barrido
- T/ZZB 0121-2016 Microscopio de biofluorescencia
- T/SPSTS 030-2023 Medición del tama?o de la hoja de material de grafeno mediante microscopía electrónica de barrido
- T/CSTM 00166.3-2020 Caracterización de materiales de grafeno Parte 3 Microscopio electrónico de transmisión
National Metrological Verification Regulations of the People's Republic of China, microscopio de electrones
- JJG(教委) 11-1992 Reglamento de calibración del microscopio electrónico de barrido
- JJG(教委) 12-1992 Reglamento de calibración para microscopía electrónica de transmisión
- JJG(地質(zhì)) 1016-1990 Reglamento de calibración para microscopía electrónica de transmisión
- JJG(教委) 14-1992 Reglamento de Verificación de Microscopios Metalográficos
- JJG(教委) 012-1996 Reglamento de verificación para microscopio metalográfico.
- JJG 550-1988 Reglamento de verificación del microscopio electrónico de barrido.
- JJG 571-2004 Microscopio de lectura y microscopio de medición.
中華人民共和國(guó)國(guó)家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局、中國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì), microscopio de electrones
- GB/T 33834-2017 Análisis de microhaces—Microscopía electrónica de barrido—Análisis con microscopio electrónico de barrido de muestras biológicas
General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, microscopio de electrones
Association of German Mechanical Engineers, microscopio de electrones
- DVS 2803-1974 Soldadura por haz de electrones en microscopía (encuesta)
- DVS 2801-1968 Soldadura por resistencia en microscopía (encuesta)
American Society for Testing and Materials (ASTM), microscopio de electrones
- ASTM E2382-04(2020) Guía estándar de artefactos relacionados con escáneres y puntas en microscopía de efecto túnel y microscopía de fuerza atómica
- ASTM E2382-04 Guía de artefactos relacionados con escáneres y puntas en microscopía de efecto túnel y microscopía de fuerza atómica
- ASTM E2382-04(2012) Guía estándar de artefactos relacionados con escáneres y puntas en microscopía de efecto túnel y microscopía de fuerza atómica
- ASTM E766-98(2003) Práctica estándar para calibrar el aumento de un microscopio electrónico de barrido
- ASTM E766-98 Práctica estándar para calibrar el aumento de un microscopio electrónico de barrido
- ASTM D7201-06(2020) Práctica estándar para el muestreo y recuento de fibras suspendidas en el aire, incluidas las fibras de asbesto, en el lugar de trabajo, mediante microscopía de contraste de fase (con la opción de microscopía electrónica de transmisión)
- ASTM E2090-12 Método de prueba estándar para el recuento diferenciado por tama?o de partículas y fibras liberadas de limpiadores de salas blancas mediante microscopía óptica y electrónica de barrido
- ASTM E2090-00 Método de prueba estándar para el recuento diferenciado por tama?o de partículas y fibras liberadas por limpiadores de salas limpias mediante microscopía óptica y electrónica de barrido
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