ZH
EN
KR
JP
ES
DE

Сканирующая электронная микроскопия

Сканирующая электронная микроскопия, Всего: 3 предметов.

В международной стандартной классификации классификациями, относящимися к Сканирующая электронная микроскопия, являются: Краски и лаки, Аналитическая химия, Испытание металлов.

Group Standards of the People's Republic of China, Сканирующая электронная микроскопия

• T/CSTM 00229-2020 Идентификация графеновых материалов в материалах покрытий методом сканирующего электронного микроскопа-энергодисперсионного спектрометра
• T/CSTM 00346-2021 Автоматическая классификация и статистика включений в стали — метод энергодисперсионного спектра сканирующего электронного микроскопа.

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, Сканирующая электронная микроскопия

• GB/T 25189-2010 Микролучевой анализ. Метод определения параметров количественного анализа SEM-EDS.

Другие:   ЕСЕМ, Сканирующая электронная микроскопия, Сканирующая электронная микроскопия, Энергетический спектрометр сканирующего электронного микроскопа, СЭМ-ЭДС, Сканирующая электронная микроскопия и энергетическая спектроскопия, Сканирующая электронная микроскопия и энергетическая спектроскопия, Сканирующая электронная микроскопия Электронная спектроскопия, Энергетический спектрометр и сканирующий электронный микроскоп, СЭМ-ЭДС, Обнаружение сканирующей электронной микроскопии, Сканирующая электронная микроскопия Электронная спектроскопия, СЭМ/ЭЦП, Энергетическая спектроскопия в сканирующей электронной микроскопии, Энергетический спектр сканирующей электронной микроскопии, СЭМ-ЭДС, СЭМ-ЭДС, Сканирующий электронный микроскоп — энергетическая спектроскопия.