ZH
EN
KR
JP
ES
DE

Ионное время полета

Ионное время полета, Всего: 13 предметов.

В международной стандартной классификации классификациями, относящимися к Ионное время полета, являются: Аналитическая химия.

國家市場監(jiān)督管理總局、中國國家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì), Ионное время полета

• GB/T 40129-2021 Химический анализ поверхности. Масс-спектрометрия вторичных ионов. Калибровка шкалы масс для времяпролетного масс-спектрометра вторичных ионов.

GSO, Ионное время полета

• OS GSO ISO 13084:2013 Химический анализ поверхности. Масс-спектрометрия вторичных ионов. Калибровка шкалы масс для времяпролетного масс-спектрометра вторичных ионов.
• BH GSO ISO 13084:2016 Химический анализ поверхности. Масс-спектрометрия вторичных ионов. Калибровка шкалы масс для времяпролетного масс-спектрометра вторичных ионов.
• GSO ISO 13084:2013 Химический анализ поверхности. Масс-спектрометрия вторичных ионов. Калибровка шкалы масс для времяпролетного масс-спектрометра вторичных ионов.

British Standards Institution (BSI), Ионное время полета

• BS ISO 13084:2011 Химический анализ поверхности. Вторично-ионная масс-спектрометрия. Калибровка шкалы масс времяпролетного масс-спектрометра вторичных ионов
• BS ISO 17862:2013 Химический анализ поверхности. Масс-спектрометрия вторичных ионов. Линейность шкалы интенсивности в времяпролетных масс-анализаторах со счетом одиночных ионов
• BS ISO 17862:2022 Химический анализ поверхности. Масс-спектрометрия вторичных ионов. Линейность шкалы интенсивности в времяпролетных масс-анализаторах со счетом одиночных ионов
• 20/30409963 DC BS ISO 17862. Химический анализ поверхности. Масс-спектрометрия вторичных ионов. Линейность шкалы интенсивности в времяпролетных масс-анализаторах со счетом одиночных ионов

International Organization for Standardization (ISO), Ионное время полета

• ISO 17862:2013 Химический анализ поверхности. Масс-спектрометрия вторичных ионов. Линейность шкалы интенсивности в времяпролетных масс-анализаторах с подсчетом одиночных ионов.
• ISO 178:2019 Химический анализ поверхности. Масс-спектрометрия вторичных ионов. Линейность шкалы интенсивности в времяпролетных масс-анализаторах с подсчетом одиночных ионов.
• ISO 17862:2022 Химический анализ поверхности. Масс-спектрометрия вторичных ионов. Линейность шкалы интенсивности в времяпролетных масс-анализаторах с подсчетом одиночных ионов.
• ISO 178:1975 Химический анализ поверхности. Масс-спектрометрия вторичных ионов. Линейность шкалы интенсивности в времяпролетных масс-анализаторах с подсчетом одиночных ионов.

SCC, Ионное время полета

• 10/30199193 DC BS ISO 13084. Химический анализ поверхности. Масс-спектрометрия вторичных ионов. Калибровка шкалы масс для времяпролетного масс-спектрометра вторичных ионов

Другие:   продолжительность полета, Ионная ловушка – время полета, Время полета ионной ловушки, ионная ловушка времени полета, ионный гидразин время полета, Время полета ионной ловушки, время полета ионов, Ионная ловушка/время полета, времяпролетная ионная ловушка, времяпролетный, ионный гидразин, время полета ионной ловушки, ионный полет, ионный гидразин время полета, ионная ионная ловушка с временем пролета, время полета, время полета, ионная ловушка, Ионное время полета, ионная ловушка, время полета, Ионное время полета, время пролета ионов.