国产又粗又长又大无遮挡,丰满人妻av一区二区三区,国产精品全国免费观看高,亚洲欧美国产日韩精品在线

GB/T 2423.2-2008
電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn).第2部分:試驗(yàn)方法.試驗(yàn)B:高溫

Environmental testing for electric and electronic products.Part 2:Test methods.Tests B:Dry heat

GBT2423.2-2008, GB2423.2-2008


標(biāo)準(zhǔn)號(hào)
GB/T 2423.2-2008
別名
GBT2423.2-2008, GB2423.2-2008
發(fā)布
2008年
總頁(yè)數(shù)
15頁(yè)
采用標(biāo)準(zhǔn)
IEC 60068-2-2:2007 IDT
發(fā)布單位
國(guó)家質(zhì)檢總局
當(dāng)前最新
GB/T 2423.2-2008
 
 
引用標(biāo)準(zhǔn)
GB/T 2421 GB/T 2422 GB/T 2423.22 GB/T 2424.1 GB/T 2424.5 GB/T 2424.7 IEC 60721
被代替標(biāo)準(zhǔn)
GB/T 2423.2-2001
適用范圍
GB/T 2423 的本部分規(guī)定的高溫試驗(yàn)適用于非散熱和散熱試驗(yàn)樣品。試驗(yàn) Bb 和試驗(yàn) Bd 與早期版本無實(shí)質(zhì)性的差異。 本低溫試驗(yàn)的目的僅限于用來確定元件、設(shè)備或其他產(chǎn)品在高溫環(huán)境下使用、運(yùn)輸或貯存的能力。 本高溫試驗(yàn)不能用來評(píng)價(jià)試驗(yàn)樣品耐溫度變化的能力和在溫度變化環(huán)境下的運(yùn)行能力 , 在這種情況下 , 應(yīng)采用 GB/T 2423.22 。 本高溫試驗(yàn)方法細(xì)分為以下幾種 : ——非散熱試驗(yàn)樣品高溫試驗(yàn) : ·試驗(yàn) Bb, 溫度漸變。 ——散熱試驗(yàn)樣品高溫試驗(yàn) : ·試驗(yàn) Bd, 溫度漸變 ; ·試驗(yàn) Be, 溫度漸變 , 試驗(yàn)樣品在整個(gè)試驗(yàn)過程通電。 本部分給出的試驗(yàn)方法通常用于試驗(yàn)期間能達(dá)到溫度穩(wěn)定的試驗(yàn)樣品。

其他標(biāo)準(zhǔn)

GB/T 2423.6-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分;試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Eb和導(dǎo)則; 碰撞 GB/T 2423.1-2001 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分;試驗(yàn)方法 試驗(yàn)A: 低溫 GB/T 2423.2-2001 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分;試驗(yàn)方法 試驗(yàn)B: 高溫 GB/T 17215-2002 1級(jí)和2級(jí)靜止式交流有功電能表 JB/T 8098-1999 泵的噪聲測(cè)量與評(píng)價(jià)方法 GB/T 17626.8-2006 電磁兼容 試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù) 工頻磁場(chǎng)抗擾度試驗(yàn) GB/T 2423.10-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn).第2部分: 試驗(yàn)方法.試驗(yàn)Fc: 振動(dòng)(正弦) GB/T 2423.17-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn).第2部分: 試驗(yàn)方法.試驗(yàn)Ka:鹽霧 GB/T 2423.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn).第2部分:試驗(yàn)方法.試驗(yàn)A: 低溫 GB/T 2423.26-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn).第2部分:試驗(yàn)方法.試驗(yàn)Z/BM:高溫/低氣壓綜合試驗(yàn) GB/T 2423.22-2012 環(huán)境試驗(yàn).第2部分:試驗(yàn)方法.試驗(yàn)N:溫度變化 GB/T 13539.4-2016 低壓熔斷器 第4部分:半導(dǎo)體設(shè)備保護(hù)用熔斷體的補(bǔ)充要求 GB/T 2423.18-2021 環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Kb:鹽霧,交變(氯化鈉溶液) GB/T 2423.34-2024 環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Z/AD:溫度/濕度組合循環(huán)試驗(yàn) GB/T 2423.3-2016 環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Cab:恒定濕熱試驗(yàn) GB/T 1634.1-2019 塑料 負(fù)荷變形溫度的測(cè)定 第1部分:通用試驗(yàn)方法 GB/T 4208-2017 外殼防護(hù)等級(jí)(IP代碼) IEC 60269-4:2024 CMV GB/T 2423.7-2018 環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Ec:粗率操作造成的沖擊(主要用于設(shè)備型樣品)

專題


GB/T 2423.2-2008相似標(biāo)準(zhǔn)


推薦

高溫試驗(yàn)的實(shí)驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)

  一通檢測(cè)實(shí)驗(yàn)室高溫試驗(yàn)的標(biāo)準(zhǔn)有:  GB/T2423.2-2001《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)2部分試驗(yàn)方法 試驗(yàn)B高溫》  GB/T13543-92《數(shù)字通信設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)方法》  MIL-STD-883D 《微電子器件試驗(yàn)方法和程序》  MIL-STD-810F《環(huán)境工程考慮與實(shí)驗(yàn)室試驗(yàn)...

溫度沖擊試驗(yàn)箱疑難雜癥 不用擔(dān)心

電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)A:低溫? ? ? GB/T2423.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)B:高溫? ? ? GB/T10592-2008 ?高低溫箱技術(shù)條件? ? ? GJB150.-2009 ?軍用裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法 第5部分:溫度沖擊試驗(yàn)? ? ? GJB360A-1996方法107溫度沖擊試驗(yàn)的要求?? ? ? GJB 360.7-1987 電子及電氣元件試驗(yàn)方法 溫度沖擊試驗(yàn)?...

溫度沖擊試驗(yàn)箱疑難雜癥 不用擔(dān)心這里有解決辦法

環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)A:低溫? ? ? GB/T2423.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)B:高溫? ? ? GB/T10592-2008 ?高低溫箱技術(shù)條件? ? ? GJB150.-2009 ?軍用裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法 第5部分:溫度沖擊試驗(yàn)? ? ? GJB360A-1996方法107溫度沖擊試驗(yàn)的要求?? ? ? GJB 360.7-1987 電子及電氣元件試驗(yàn)方法 溫度沖擊試驗(yàn)...

鋼材的低溫沖擊試驗(yàn)

℃  6.注:其它非標(biāo)或特殊內(nèi)箱尺寸柳沁可根據(jù)客戶要求定制,外箱尺寸以實(shí)際尺寸為準(zhǔn)。  超低溫沖擊試驗(yàn)箱滿足:GBT?2423.1-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)?第2部分試驗(yàn)方法試驗(yàn)A低溫/GBT?2423.2-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)2部分試驗(yàn)方法;試驗(yàn)B高溫/GBT...


GB/T 2423.2-2008系列標(biāo)準(zhǔn)

GB/T 2423.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn).第2部分:試驗(yàn)方法.試驗(yàn)A: 低溫 GB/T 2423.10-2019 環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Fc: 振動(dòng)(正弦) GB/T 2423.101-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn).第2部分:試驗(yàn)方法.試驗(yàn):傾斜和搖擺 GB/T 2423.102-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn).第2部分:試驗(yàn)方法.試驗(yàn):溫度(低溫、高溫)/低氣壓/振動(dòng)(正弦)綜合 GB/T 2423.11-1997 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分: 試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Fd: 寬頻帶隨機(jī)振動(dòng)--一般要求 GB/T 2423.12-1997 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分: 試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Fda: 寬頻帶隨機(jī)振動(dòng)--高再現(xiàn)性 GB/T 2423.13-1997 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分: 試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Fdb: 寬頻帶隨機(jī)振動(dòng)--中再現(xiàn)性 GB/T 2423.14-1997 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分: 試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Fdc: 寬頻帶隨機(jī)振動(dòng)--低再現(xiàn)性 GB/T 2423.15-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn).第2部分: 試驗(yàn)方法.試驗(yàn)Ga和導(dǎo)則: 穩(wěn)態(tài)加速度 GB/T 2423.16-2022 環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)J和導(dǎo)則:長(zhǎng)霉 GB/T 2423.17-2024 環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Ka:鹽霧 GB/T 2423.18-2021 環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Kb:鹽霧,交變(氯化鈉溶液) GB/T 2423.19-2013 環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Kc:接觸點(diǎn)和連接件的二氧化硫試驗(yàn) GB/T 2423.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn).第2部分:試驗(yàn)方法.試驗(yàn)B:高溫 GB/T 2423.20-2014 環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Kd:接觸點(diǎn)和連接件的硫化氫試驗(yàn) GB/T 2423.21-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn).第2部分:試驗(yàn)方法.試驗(yàn)M:低氣壓 GB/T 2423.22-2012 環(huán)境試驗(yàn).第2部分:試驗(yàn)方法.試驗(yàn)N:溫度變化 GB/T 2423.23-2013 環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Q:密封 GB/T 2423.24-2022 環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)S:模擬地面上的太陽(yáng)輻射及太陽(yáng)輻射試驗(yàn)和氣候老化試驗(yàn)導(dǎo)則 GB/T 2423.25-2008 電工電子產(chǎn)品 環(huán)境試驗(yàn).第2部分:試驗(yàn)方法.試驗(yàn)Z/AM:低溫/低氣壓綜合試驗(yàn) GB/T 2423.26-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn).第2部分:試驗(yàn)方法.試驗(yàn)Z/BM:高溫/低氣壓綜合試驗(yàn) GB/T 2423.27-2020 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Z/AMD:低溫/低氣壓/濕熱連續(xù)綜合試驗(yàn) GB/T 2423.28-2005 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分;試驗(yàn)方法 試驗(yàn)T:錫焊 GB/T 2423.29-1999 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分: 試驗(yàn)方法 試驗(yàn)U:引出端及整體安裝件強(qiáng)度 GB/T 2423.3-2016 環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Cab:恒定濕熱試驗(yàn)

GB/T 2423.2-2008 中可能用到的儀器設(shè)備


誰引用了GB/T 2423.2-2008 更多引用





Copyright ?2007-2024 ANTPEDIA, All Rights Reserved
京ICP備07018254號(hào) 京公網(wǎng)安備1101085018 電信與信息服務(wù)業(yè)務(wù)經(jīng)營(yíng)許可證:京ICP證110310號(hào)
頁(yè)面更新時(shí)間: 2024-12-31 11:54

| | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | |