一通檢測(cè)實(shí)驗(yàn)室高溫試驗(yàn)的標(biāo)準(zhǔn)有: GB/T2423.2-2001《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)B:高溫》 GB/T13543-92《數(shù)字通信設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)方法》 MIL-STD-883D 《微電子器件試驗(yàn)方法和程序》 MIL-STD-810F《環(huán)境工程考慮與實(shí)驗(yàn)室試驗(yàn)...
電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)A:低溫? ? ? GB/T2423.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)B:高溫? ? ? GB/T10592-2008 ?高低溫箱技術(shù)條件? ? ? GJB150.-2009 ?軍用裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法 第5部分:溫度沖擊試驗(yàn)? ? ? GJB360A-1996方法107溫度沖擊試驗(yàn)的要求?? ? ? GJB 360.7-1987 電子及電氣元件試驗(yàn)方法 溫度沖擊試驗(yàn)?...
環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)A:低溫? ? ? GB/T2423.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)B:高溫? ? ? GB/T10592-2008 ?高低溫箱技術(shù)條件? ? ? GJB150.-2009 ?軍用裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法 第5部分:溫度沖擊試驗(yàn)? ? ? GJB360A-1996方法107溫度沖擊試驗(yàn)的要求?? ? ? GJB 360.7-1987 電子及電氣元件試驗(yàn)方法 溫度沖擊試驗(yàn)...
℃ 6.注:其它非標(biāo)或特殊內(nèi)箱尺寸柳沁可根據(jù)客戶要求定制,外箱尺寸以實(shí)際尺寸為準(zhǔn)。 超低溫沖擊試驗(yàn)箱滿足:GBT?2423.1-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)?第2部分試驗(yàn)方法試驗(yàn)A低溫/GBT?2423.2-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法;試驗(yàn)B:高溫/GBT...
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