離子阱和飛行時(shí)間

本專(zhuān)題涉及離子阱和飛行時(shí)間的標(biāo)準(zhǔn)有12條。

國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)分類(lèi)中，離子阱和飛行時(shí)間涉及到分析化學(xué)。

在中國(guó)標(biāo)準(zhǔn)分類(lèi)中，離子阱和飛行時(shí)間涉及到基礎(chǔ)標(biāo)準(zhǔn)與通用方法、化學(xué)、基礎(chǔ)標(biāo)準(zhǔn)與通用方法。

國(guó)家市場(chǎng)監(jiān)督管理總局、中國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)，關(guān)于離子阱和飛行時(shí)間的標(biāo)準(zhǔn)

• GB/T 40129-2021 表面化學(xué)分析 二次離子質(zhì)譜 飛行時(shí)間二次離子質(zhì)譜儀質(zhì)量標(biāo)校準(zhǔn)

國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)化組織，關(guān)于離子阱和飛行時(shí)間的標(biāo)準(zhǔn)

• ISO 13084-2018 表面化學(xué)分析 - 二次離子質(zhì)譜法 - 用于飛行時(shí)間二次離子質(zhì)譜儀的質(zhì)譜的校準(zhǔn)
• ISO 13084:2018 表面化學(xué)分析 - 二次離子質(zhì)譜法 - 用于飛行時(shí)間二次離子質(zhì)譜儀的質(zhì)譜的校準(zhǔn)
• ISO 17862-2013 表面化學(xué)分析.次級(jí)離子質(zhì)譜法.單離子計(jì)數(shù)飛行時(shí)間質(zhì)量分析器強(qiáng)度標(biāo)的線性
• ISO 17862:2013 表面化學(xué)分析——二次離子質(zhì)譜法——單離子計(jì)數(shù)飛行時(shí)間質(zhì)量分析儀中強(qiáng)度標(biāo)度的線性
• ISO 13084-2011 表面化學(xué)分析.二次離子質(zhì)譜分析法.飛行時(shí)間二次離子質(zhì)譜儀用質(zhì)量標(biāo)度的校準(zhǔn)
• ISO 13084:2011 表面化學(xué)分析——二次離子質(zhì)譜法——飛行時(shí)間二次離子質(zhì)譜儀質(zhì)量刻度的標(biāo)定

英國(guó)標(biāo)準(zhǔn)學(xué)會(huì)，關(guān)于離子阱和飛行時(shí)間的標(biāo)準(zhǔn)

• BS ISO 17862-2013 表面化學(xué)分析.次級(jí)離子質(zhì)譜法.單離子計(jì)數(shù)飛行時(shí)間質(zhì)量分析器強(qiáng)度標(biāo)的線性
• BS ISO 17862-2013 表面化學(xué)分析.次級(jí)離子質(zhì)譜法.單離子計(jì)數(shù)飛行時(shí)間質(zhì)量分析器強(qiáng)度標(biāo)的線性
• BS ISO 13084-2011 表面化學(xué)分析.二次離子質(zhì)譜.飛行時(shí)間二次離子質(zhì)譜用質(zhì)量標(biāo)度的校準(zhǔn)
• BS ISO 13084-2011 表面化學(xué)分析.二次離子質(zhì)譜.飛行時(shí)間二次離子質(zhì)譜用質(zhì)量標(biāo)度的校準(zhǔn)

美國(guó)材料與試驗(yàn)協(xié)會(huì)，關(guān)于離子阱和飛行時(shí)間的標(biāo)準(zhǔn)

• ASTM E2695-2009 用飛行時(shí)間二次離子質(zhì)譜法說(shuō)明質(zhì)譜數(shù)據(jù)獲取的標(biāo)準(zhǔn)指南

本站其他標(biāo)準(zhǔn)專(zhuān)題： 離子阱和飛行時(shí)間，離子阱飛行時(shí)間，線性離子阱和飛行時(shí)間，離子阱,飛行時(shí)間，離子阱與飛行時(shí)間，飛行時(shí)間、離子阱，離子阱/飛行時(shí)間，飛行時(shí)間 離子阱，離子飛行時(shí)間 離子阱，離子阱-飛行時(shí)間，離子阱 飛行時(shí)間，離子肼和飛行時(shí)間，離子飛行時(shí)間，離子阱質(zhì)譜 飛行時(shí)間，離子的飛行時(shí)間，離子肼飛行時(shí)間，飛行時(shí)間,離子肼，飛行時(shí)間 四級(jí)桿 離子阱，離子阱質(zhì)譜和飛行時(shí)間質(zhì)譜，離子阱飛行時(shí)間質(zhì)譜。

 

可能用到的儀器設(shè)備