共找到 150 條與 環(huán)境掃描電子顯微鏡法 相關(guān)的標準，共 10 頁
GB/T 19267的本部分規(guī)定了掃描電子顯微鏡和與X射線能譜儀聯(lián)用的檢驗方法。 本部分適用于刑事技術(shù)領(lǐng)域中微量物證的理化檢驗，其他領(lǐng)域亦可參照使用
Physical and chemical examination of trace evidence in forensic sciences.Part 6:Scanning electron microscope/X ray energy dispersive spectrometry
描述了通過評估掃描電鏡的關(guān)鍵性能參數(shù)來鑒定其與數(shù)字成像系統(tǒng)配合使用的方法
Microbeam analysis - Scanning electron microscopy - Qualification of the scanning electron microscope for quantitative measurements
本標準規(guī)定了掃描電子顯微鏡的試驗方法。 本標準適用于掃描電鏡主機性能的試驗
Test method of scanning electron microscope
この規(guī)格は，走査電子顕微鏡を用いて，主として二 次電子による試料表面の微小部の形態(tài)観察と分析を行う場合の一般的事項について規(guī)定する
General rules for scanning electron microscopy
本標準規(guī)定了生物試樣掃描電子顯微鏡分析的技術(shù)要求和規(guī)范。 本標準適用于各種類型的掃描電子顯微鏡
Microbeam analysis—Scanning electron microscopy—Scanning electron microscope analysis of biological specimens
本標準規(guī)定了掃描電子顯微鏡 (scanning electron microscope, 以下簡稱掃描電鏡或 SEM) 的分析方法原理、環(huán)境條件指標、儀器、樣品、分析測試、結(jié)果報告、儀器維護和安全注意事項。 本標準適用于利用各類掃描電鏡進行的微觀形貌、微區(qū)成分和結(jié)構(gòu)分析等
General Rules for Analytical Methods of Scanning Electron Microscopy
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General rules for scanning electron microscopy
Scanning Electron Microscope Calibration Regulations
Calibration Specification for Scanning Electronic Microscopes (SEM)
本標準規(guī)定了電子顯微鏡的產(chǎn)品分類、技術(shù)要求、試驗方法、檢驗規(guī)則、標志、包裝、運輸、貯存等。 本標準適用于掃描電子顯微鏡
Scanning electron microscope - Technical specification
Microbeam analysis —Scanning electron microscopy — Vocabulary
Microbeam analysis－Scanning electron microscopy－Vocabulary
Microbeam analysis -- Scanning electron microscopy -- Vocabulary
Cross References: ISO 704 ISO 1087-1 ISO 10241 ISO 18115:2001 ISO 23833
Microbeam analysis. Scanning electron microscopy. Vocabulary
Microbeam analysis —Scanning electron microscopy — Vocabulary
