GB/T 19267.6-2008
刑事技術(shù)微量物證的理化檢驗(yàn) 第6部分:掃描電子顯微鏡/X射線能譜法
Physical and chemical examination of trace evidence in forensic sciences.Part 6:Scanning electron microscope/X ray energy dispersive spectrometry
GBT19267.6-2008, GB19267.6-2008
- 標(biāo)準(zhǔn)號(hào)
- GB/T 19267.6-2008
- 別名
- GBT19267.6-2008, GB19267.6-2008
- 發(fā)布
- 2008年
- 總頁(yè)數(shù)
- 9頁(yè)
- 發(fā)布單位
- 國(guó)家質(zhì)檢總局
- 當(dāng)前最新
- GB/T 19267.6-2008
- 引用標(biāo)準(zhǔn)
- GB/T 13966
- 被代替標(biāo)準(zhǔn)
- GB/T 19267.6-2003
- 本體
- 掃描電子顯微鏡
- 適用范圍
- GB/T 19267的本部分規(guī)定了掃描電子顯微鏡和與X射線能譜儀聯(lián)用的檢驗(yàn)方法。 本部分適用于刑事技術(shù)領(lǐng)域中微量物證的理化檢驗(yàn)，其他領(lǐng)域亦可參照使用。
| 術(shù)語(yǔ) | 描述 |
|---|---|
| 掃描電子顯微鏡法 scanning electron microscopy (SEM) | 由電子槍發(fā)射并經(jīng)電磁透鏡聚焦的電子束在樣品表面按一定的時(shí)間、空間順序作光柵掃描，探測(cè)器接收樣品中激發(fā)的二次電子等信號(hào)，在顯示器上觀察到反映樣品表面貌似的電子圖的方法。 |
| 環(huán)境掃描電子顯微鏡法 environmental scanning electron microscopy (ESEM) | 環(huán)境掃描電鏡是近年發(fā)展起來(lái)的新型掃描電鏡，樣品室處于低真空環(huán)境下，非導(dǎo)體及含水樣品可以不經(jīng)表面導(dǎo)電處理就能直接觀察。 |
| X射線能譜法 energy dispersive spectrometry (EDS) | 用具有一定能量和強(qiáng)度的粒子束轟擊試樣物質(zhì)，根據(jù)試樣物質(zhì)被激發(fā)的特征X射線能量和強(qiáng)度的關(guān)系圖實(shí)現(xiàn)對(duì)試樣的元素分析、結(jié)構(gòu)分析和表面物化特性分析的方法。 |
GB/T 19267.6-2008 中提到的儀器設(shè)備
| 掃描電子顯微鏡 | 用于觀察樣品表面形貌及成分分析的高分辨率顯微鏡，可與X射線能譜儀聯(lián)用進(jìn)行元素分析。 |
| 環(huán)境掃描電子顯微鏡 | 適用于非導(dǎo)體和含水樣品的直接觀察，樣品室處于低真空環(huán)境下。 |
專題
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