OS GSO ISO 20341:2014
表面化學(xué)分析二次離子質(zhì)譜用多δ層參考材料估計深度分辨率參數(shù)的方法

Surface chemical analysis -- Secondary-ion mass spectrometry -- Method for estimating depth resolution parameters with multiple delta-layer reference materials

OS GSO ISO 20341:2014 發(fā)布?xì)v史

OS GSO ISO 20341:2014由阿曼規(guī)格和計量局 OMN-OS 發(fā)布于 2014-1-1。

OS GSO ISO 20341:2014 表面化學(xué)分析二次離子質(zhì)譜用多δ層參考材料估計深度分辨率參數(shù)的方法的最新版本是哪一版？

最新版本是 OS GSO ISO 20341:2014 。

OS GSO ISO 20341:2014的歷代版本如下：

2014年 OS GSO ISO 20341:2014 表面化學(xué)分析二次離子質(zhì)譜用多δ層參考材料估計深度分辨率參數(shù)的方法

該標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了使用多δ層參考材料來估計二次離子質(zhì)譜（SIMS）分析中的深度分辨率參數(shù)的方法。適用于表面化學(xué)分析領(lǐng)域，通過精確測量和評估參考材料的特性，以確保SIMS技術(shù)在科學(xué)研究與工業(yè)應(yīng)用中的準(zhǔn)確性。

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標(biāo)準(zhǔn)號: OS GSO ISO 20341:2014
發(fā)布: 2014年
發(fā)布單位: 阿曼規(guī)格和計量局
當(dāng)前最新: OS GSO ISO 20341:2014

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