電子掃描電鏡 能譜
本專題涉及電子掃描電鏡 能譜的標(biāo)準(zhǔn)有94條。
國際標(biāo)準(zhǔn)分類中，電子掃描電鏡 能譜涉及到犯罪行為防范、光學(xué)設(shè)備、光學(xué)和光學(xué)測量、涂料和清漆、建筑材料、分析化學(xué)、教育、詞匯、金屬材料試驗、醫(yī)學(xué)科學(xué)和保健裝置綜合、熱力學(xué)和溫度測量、電子顯示器件、物理學(xué)、化學(xué)、表面處理和鍍涂、長度和角度測量。
在中國標(biāo)準(zhǔn)分類中，電子掃描電鏡 能譜涉及到犯罪鑒定技術(shù)、電子光學(xué)與其他物理光學(xué)儀器、顏料、電磁計量、、基礎(chǔ)標(biāo)準(zhǔn)與通用方法、檢驗專用設(shè)備、教學(xué)專用儀器、化學(xué)計量、技術(shù)管理、教育、學(xué)位、學(xué)銜、石油地質(zhì)勘探、質(zhì)譜儀、液譜儀、能譜儀及其聯(lián)用裝置、電化學(xué)、熱化學(xué)、光學(xué)式分析儀器、石油勘探、開發(fā)與集輸工程綜合、記錄儀器及光線示波器、光學(xué)設(shè)備、放大鏡與顯微鏡、電子元件綜合、材料防護(hù)。
行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)-司法，關(guān)于電子掃描電鏡 能譜的標(biāo)準(zhǔn)
- SF/T 0139-2023 泥土檢驗 掃描電子顯微鏡/X射線能譜法
國家質(zhì)檢總局，關(guān)于電子掃描電鏡 能譜的標(biāo)準(zhǔn)
- GB/T 17359-1998 電子探針和掃描電鏡X射線能譜定量分析通則
- GB/T 17362-2008 黃金制品的掃描電鏡X射線能譜分析方法
- GB/T 17362-1998 黃金飾品的掃描電鏡X射線能譜分析方法
- GB/T 17361-1998 沉積巖中自生粘土礦物掃描電子顯微鏡及X射線能譜鑒定方法
- GB/T 25189-2010 微束分析.掃描電鏡能譜儀定量分析參數(shù)的測定方法
- GB/T 17361-2013 微束分析 沉積巖中自生粘土礦物鑒定 掃描電子顯微鏡及能譜儀方法
- GB/T 19267.6-2008 刑事技術(shù)微量物證的理化檢驗 第6部分:掃描電子顯微鏡/X射線能譜法
行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)-公共安全標(biāo)準(zhǔn)，關(guān)于電子掃描電鏡 能譜的標(biāo)準(zhǔn)
- GA/T 1939-2021 法庭科學(xué) 電流斑檢驗 掃描電子顯微鏡/X射線能譜法
- GA/T 1938-2021 法庭科學(xué) 金屬檢驗 掃描電子顯微鏡/X射線能譜法
- GA/T 1937-2021 法庭科學(xué) 橡膠檢驗 掃描電子顯微鏡/X射線能譜法
- GA/T 1522-2018 法庭科學(xué) 射擊殘留物檢驗 掃描電子顯微鏡/X射線能譜法
- GA/T 1521-2018 法庭科學(xué) 塑料元素成分檢驗 掃描電子顯微鏡/X射線能譜法
- GA/T 1519-2018 法庭科學(xué) 墨粉元素成分檢驗 掃描電子顯微鏡/X射線能譜法
- GA/T 909-2010 微量物證的提取、包裝方法 掃描電子顯微鏡/能譜法檢驗射擊殘留物
- GA/T 1418-2017 法庭科學(xué)玻璃物證的元素成分檢驗 掃描電鏡/能譜法
- GA/T 1520-2018 法庭科學(xué) 黑火藥、煙火藥元素成分檢驗 掃描電子顯微鏡/X射線能譜法
- GA/T 823.3-2018 法庭科學(xué)油漆物證的檢驗方法 第3部分：掃描電子顯微鏡/X射線能譜法
日本工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)調(diào)查會，關(guān)于電子掃描電鏡 能譜的標(biāo)準(zhǔn)
- JIS K 0132:1997 掃描電子顯微鏡總則
國際標(biāo)準(zhǔn)化組織，關(guān)于電子掃描電鏡 能譜的標(biāo)準(zhǔn)
- ISO/TS 21383:2021 微束分析.掃描電子顯微鏡.定量測量用掃描電子顯微鏡的鑒定
- ISO 22493:2008 微光束分析.掃描電子顯微鏡方法.詞匯
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- ISO 16700:2004 微電子束分析.掃描電子顯微鏡.校準(zhǔn)圖像放大指南
- ISO/TS 10798:2011 納米技術(shù).使用掃描電鏡與X射線能譜分析的單臂碳納米管的特征描述
- ISO 9220:2022 金屬涂層.涂層厚度的測量.掃描電子顯微鏡法
福建省地方標(biāo)準(zhǔn)，關(guān)于電子掃描電鏡 能譜的標(biāo)準(zhǔn)
- DB35/T 110-2000 油漆物證檢測電子探針和掃描電鏡X射線能譜分析方法
國家計量技術(shù)規(guī)范，關(guān)于電子掃描電鏡 能譜的標(biāo)準(zhǔn)
- JJF 1916-2021 掃描電子顯微鏡校準(zhǔn)規(guī)范
行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)-機械，關(guān)于電子掃描電鏡 能譜的標(biāo)準(zhǔn)
- JB/T 6842-1993 掃描電子顯微鏡試驗方法
- JB/T 5384-1991 掃描電子顯微鏡.技術(shù)條件
國家計量檢定規(guī)程，關(guān)于電子掃描電鏡 能譜的標(biāo)準(zhǔn)
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中國團體標(biāo)準(zhǔn)，關(guān)于電子掃描電鏡 能譜的標(biāo)準(zhǔn)
- T/CSTM 00229-2020 涂料中石墨烯材料的測定掃描電鏡-能譜法
- T/CSTM 00346-2021 鋼中夾雜物的自動分類和統(tǒng)計 掃描電鏡能譜法
- T/GAIA 017-2022 鋁及鋁合金表面涂層氟含量的測定 掃描電鏡能譜法
- T/QGCML 1940-2023 掃描電子顯微鏡原位高溫力學(xué)測試裝置
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韓國科技標(biāo)準(zhǔn)局，關(guān)于電子掃描電鏡 能譜的標(biāo)準(zhǔn)
- KS M 0044-1999 掃描電子顯微鏡的一般規(guī)則
- KS I 0051-1999(2019) 掃描電子顯微鏡的一般規(guī)則
- KS I 0051-2019 掃描電子顯微鏡的一般規(guī)則
- KS I 0051-1999 掃描電子顯微鏡試驗方法通則
- KS D ISO 22493-2012(2017) 微束分析掃描電子顯微鏡詞匯
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- KS D ISO 22493-2022 微束分析.掃描電子顯微鏡.詞匯
- KS D ISO 22493:2012 微光束分析.掃描電子顯微鏡.術(shù)語
- KS D ISO 16700:2013 微電子束分析.掃描電子顯微鏡.校準(zhǔn)圖像放大指南
- KS D ISO 9220:2009 金屬覆蓋層.鍍層厚度測量.掃描電子顯微鏡法
中華人民共和國國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗檢疫總局、中國國家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會，關(guān)于電子掃描電鏡 能譜的標(biāo)準(zhǔn)
- GB/T 33834-2017 微束分析 掃描電子顯微術(shù) 生物試樣掃描電子顯微鏡分析方法
巴林國家計量局，關(guān)于電子掃描電鏡 能譜的標(biāo)準(zhǔn)
- BH GSO ISO 22493:2017 微束分析 掃描電子顯微鏡 詞匯
英國標(biāo)準(zhǔn)學(xué)會，關(guān)于電子掃描電鏡 能譜的標(biāo)準(zhǔn)
- BS ISO 22493:2008 微束分析 掃描電子顯微鏡 詞匯
- 18/30319114 DC BS ISO 20171 微束分析 掃描電子顯微鏡 用于掃描電子顯微鏡（TIFF/SEM）的標(biāo)記圖像文件格式
- 06/30128226 DC ISO 22493 微束分析 掃描電子顯微鏡 詞匯
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- BS EN ISO 9220:1989 金屬鍍層.鍍層厚度測量.掃描電子顯微鏡法
- 13/30203227 DC BS ISO 13083 表面化學(xué)分析 掃描探針顯微鏡 掃描擴散電阻顯微鏡和掃描電容顯微鏡的空間分辨率定義和校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)
- DD ISO/TS 10798:2011 納米技術(shù) 使用掃描電子顯微鏡和能量色散 X 射線光譜分析表征單壁碳納米管
行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)-教育，關(guān)于電子掃描電鏡 能譜的標(biāo)準(zhǔn)
- JY/T 0584-2020 掃描電子顯微鏡分析方法通則
- JY/T 010-1996 分析型掃描電子顯微鏡方法通則
海灣阿拉伯國家合作委員會標(biāo)準(zhǔn)組織，關(guān)于電子掃描電鏡 能譜的標(biāo)準(zhǔn)
- GSO ISO 22493:2015 微束分析 掃描電子顯微鏡 詞匯
- GSO ISO 25498:2015 微束分析 分析掃描電子顯微鏡 使用透射電子顯微鏡進(jìn)行選區(qū)電子衍射分析
- GSO ISO 9220:2013 金屬涂層 涂層厚度測量 掃描電子顯微鏡法
國家市場監(jiān)督管理總局、中國國家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會，關(guān)于電子掃描電鏡 能譜的標(biāo)準(zhǔn)
- GB/T 35099-2018 微束分析 掃描電鏡-能譜法 大氣細(xì)粒子單顆粒形貌與元素分析
美國材料與試驗協(xié)會，關(guān)于電子掃描電鏡 能譜的標(biāo)準(zhǔn)
- ASTM E766-98(2003) 校準(zhǔn)掃描電子顯微鏡的放大倍數(shù)
- ASTM E766-98 校準(zhǔn)掃描電子顯微鏡的放大倍數(shù)
- ASTM E1588-10 用掃描電子顯微鏡/能量色散光譜法進(jìn)行槍擊殘留物分析的標(biāo)準(zhǔn)指南
- ASTM E1588-08 用掃描電子顯微鏡/能量色散光譜法進(jìn)行槍擊殘留物分析的標(biāo)準(zhǔn)指南
- ASTM E1588-95(2001) 用掃描電子顯微鏡/能量色散光譜法進(jìn)行槍擊殘留物分析的標(biāo)準(zhǔn)指南
- ASTM E1588-95 用掃描電子顯微鏡/能量色散光譜法進(jìn)行槍擊殘留物分析的標(biāo)準(zhǔn)指南
- ASTM E986-04 掃描電子顯微鏡射束尺寸特征描述標(biāo)準(zhǔn)實施規(guī)程
- ASTM E986-04(2010) 掃描電子顯微鏡射束尺寸特征描述標(biāo)準(zhǔn)實施規(guī)程
- ASTM E1588-20 通過掃描電子顯微鏡/能量色散X射線光譜法進(jìn)行槍支殘留分析的標(biāo)準(zhǔn)實踐
- ASTM E986-04(2017) 掃描電子顯微鏡光束尺寸表征的標(biāo)準(zhǔn)實踐
- ASTM E986-97 掃描電子顯微鏡光束尺寸表征的標(biāo)準(zhǔn)實踐
- ASTM E766-14 掃描電子顯微鏡放大倍率校準(zhǔn)的標(biāo)準(zhǔn)方法
- ASTM E986-04(2024) 掃描電子顯微鏡光束尺寸表征的標(biāo)準(zhǔn)實踐
上海市標(biāo)準(zhǔn)，關(guān)于電子掃描電鏡 能譜的標(biāo)準(zhǔn)
- DB31/T 297-2003 掃描電子顯微鏡放大倍率校準(zhǔn)方法
行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)-石油，關(guān)于電子掃描電鏡 能譜的標(biāo)準(zhǔn)
- SY/T 5162-2021 巖石樣品掃描電子顯微鏡分析方法
- SY 5162-2014 巖石樣品掃描電子顯微鏡分析方法
- SY/T 5162-2014 巖石樣品掃描電子顯微鏡分析方法
- SY/T 5162-1997 巖石樣品掃描電子顯微鏡分析方法
美國給水工程協(xié)會，關(guān)于電子掃描電鏡 能譜的標(biāo)準(zhǔn)
- AWWA ACE56156 使用平板掃描儀和掃描電子顯微鏡評估膜表面污染模式
法國標(biāo)準(zhǔn)化協(xié)會，關(guān)于電子掃描電鏡 能譜的標(biāo)準(zhǔn)
- NF X21-005:2006 微電子束分析.掃描電子顯微鏡.校準(zhǔn)圖像放大指南
- NF A91-108*NF EN ISO 9220:2022 金屬鍍層 鍍層厚度的測量 掃描電子顯微鏡法
行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)-農(nóng)業(yè)，關(guān)于電子掃描電鏡 能譜的標(biāo)準(zhǔn)
- QB/T 8088.1-2024 食品金屬容器內(nèi)壁腐蝕的測定 第1部分：掃描電鏡-能譜法
行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)-商品檢驗，關(guān)于電子掃描電鏡 能譜的標(biāo)準(zhǔn)
- SN/T 4388-2015 皮革鑒定 掃描電鏡和光學(xué)顯微鏡法
德國機械工程師協(xié)會，關(guān)于電子掃描電鏡 能譜的標(biāo)準(zhǔn)
- VDI 3866 BLATT 5-2015 技術(shù)產(chǎn)品中石棉的測定掃描電子顯微鏡法
- VDI 3866 BLATT 5-2017 工業(yè)產(chǎn)品中石棉的測定掃描電子顯微鏡法
- VDI 3866 Blatt 5-2003 工業(yè)產(chǎn)品中石棉的測定掃描電子顯微鏡法
俄羅斯標(biāo)準(zhǔn)局，關(guān)于電子掃描電鏡 能譜的標(biāo)準(zhǔn)
- PNST 508-2020 納米技術(shù) 單壁碳納米管 通過掃描電子顯微鏡和能量色散 X 射線光譜法表征
- GOST R 8.594-2009 確保測量一致性的國家體系.掃描電子顯微鏡
丹麥標(biāo)準(zhǔn)化協(xié)會，關(guān)于電子掃描電鏡 能譜的標(biāo)準(zhǔn)
- DANSK DS/ISO 9220:2022 金屬涂層 涂層厚度測量 掃描電子顯微鏡法
- DANSK DS/ISO/TS 10798:2011 納米技術(shù) 使用掃描電子顯微鏡和能量色散 X 射線光譜分析表征單壁碳納米管
意大利統(tǒng)一標(biāo)準(zhǔn)化組織，關(guān)于電子掃描電鏡 能譜的標(biāo)準(zhǔn)
- UNI EN ISO 9220:1998 金屬涂層 涂層厚度測量 掃描電子顯微鏡法
印度標(biāo)準(zhǔn)局，關(guān)于電子掃描電鏡 能譜的標(biāo)準(zhǔn)
- IS 16410-2017 納米技術(shù) 使用掃描電子顯微鏡和能量色散 X 射線光譜分析表征單壁碳納米管
SE-SIS，關(guān)于電子掃描電鏡 能譜的標(biāo)準(zhǔn)
- SIS SS CECC 00013-1985 基本規(guī)范．半導(dǎo)體芯片的掃描電子顯微鏡觀察
