碳化硅中微量元素分析主要采用原子吸收光譜法、電感耦合等離子體原子發(fā)射光譜(ICP-OES)法和電感耦合等離子體質(zhì)譜(ICP-MS)法。本文根據(jù)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)GB/T3045-2017中電感耦合等離子體質(zhì)譜法測(cè)定的方法,經(jīng)過(guò)檢測(cè)條件的優(yōu)化,建立了電感耦合等離子體光譜(ICP-OES)法測(cè)定碳化硅粉末中鐵、鎂、鈦、鋁、鈣、鈉含量的方法,可供相關(guān)人員參考。...
經(jīng)過(guò)大量的研究,人們發(fā)現(xiàn):材料所含離子的種類(lèi)與含量等方面的差異對(duì)材料性能、生態(tài)環(huán)境以及健康的影響是十分巨大的。因此,離子色譜法作為一種重要的檢測(cè)方法也被引入到材料的檢測(cè)與分析中。本文為大家簡(jiǎn)單介紹離子色譜法在常見(jiàn)的幾種材料檢測(cè)中的應(yīng)用案例。01氮化硅提取液中陰離子的測(cè)定氮化硅是一種重要的新型結(jié)構(gòu)陶瓷材料。...
二氧化硅的測(cè)定方法有多種,下面逐一將不同方法作簡(jiǎn)單介紹。1 揮散法若某個(gè)試樣中二氧化硅的含量在98%以上,應(yīng)用氫氟酸揮發(fā)重量差減法(即揮散法)來(lái)測(cè)定SiO2含量。具體測(cè)定步驟如下:將鉑坩堝中測(cè)定過(guò)燒失量的試樣,用少量水潤(rùn)濕,加入4~5滴硫酸及5~7mL氫氟酸,放在電爐上低溫加熱,揮發(fā)至近干時(shí),取下放冷,再加2~3滴硫酸及3~4mL氫氟酸,繼續(xù)加熱揮發(fā)至干,然后升高溫度,至三氧化硫白煙完全逸盡。...
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